薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。
基本介紹
- 中文名：薄膜測厚儀
- 外文名：Film Thickness Tester
- 又稱：測厚儀
- 別稱：薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀
- 作用：專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜
- 特點：精確測量
- 分類：接觸式、非接觸式薄膜測厚儀
設備用途,分類,接觸式設備,非接觸式設備,
設備用途
塑膠包裝材料厚度是否均勻是檢測其各項性能的基礎。包裝材料厚度不均，會影響到阻隔性、拉伸強度等性能；對材料厚度實施高精度控制也是確保質量與控制成本的重要手段。
分類
薄膜測厚儀根據其測量方式的不同，可分為：
接觸式薄膜測厚儀：點接觸式，面接觸式。
非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流，超音波，紅外等
註：我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標準，包括國家標淮，國際、美國、日本、歐洲標準等均指定採用機械式測厚中的面接觸測厚的方式，同時該方法也被作為薄膜，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法。
接觸式設備
套用範圍
採用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規範性和準確性。專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。
接觸式薄膜測厚儀
接觸式薄膜測厚儀技術特徵
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定製
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用於系統標定，保證測試的精度和數據一致性
系統支持數據實時顯示、自動統計、列印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、選單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看
標準的RS232接口，便於系統的外部連線和數據傳輸
支持Lystem™實驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告
執行標準
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
技術指標
負荷量程：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）
解析度：0.1μm
測量速度：10 次/min （可調）
測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
註：薄膜、紙張任選一種；非標可定製
電源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)
淨重：33kg
儀器配置
標準配置：主機、微型印表機、標準量塊一件
選購件：專業軟體、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼
非接觸式設備
英國公司研發出的非接觸式測量方法測厚儀，可以實現對薄膜的非接觸式測量，避免對紙張造成形變引起誤差。
測量原理
使用兩個雷射感測器安裝在被測物（紙張）上下方，將感測器固定在穩定的支架上，確保兩個感測器的雷射能對在同一點上。隨著被測物的移動感測器就開始對其表面進行採樣，分別測量出目標上下表面分別與上下成對的雷射位移感測器距離，測量值通過串口傳輸到計算機，再通過我們在計算機上的測厚軟體進行處理，得到目標的厚度值。
非接觸式薄膜測厚儀的出現，大大提高了紙張等片材厚度測量的精度，尤其是在自動化生產線上，得到廣泛套用。
