超音波數顯測厚儀是採用最新的高性能、低功耗微處理器技術,基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對材料的聲速進行測量。
基本介紹
- 中文名:數顯測厚儀
- 測量範圍:0.75~300mm(鋼中)
- 聲速範圍:1000~9999 m/s
- 分 辨 率:0.1mm
超音波數顯測厚儀,技術參數,數顯薄膜測厚儀,產品用途,技術指標,
超音波數顯測厚儀
可以對生產設備中各種管道和壓力容器進行厚度測量,監測它們在使用過程中受腐蝕後的減薄程度,也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。
技術參數
1.顯示方法:高對比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光;
2.測量範圍:0.75~300mm(鋼中),公制與英制可選擇;
5.示值精度: ±(1%H+0.1)mm H為被測物實際厚度
6.測量周期:單點測量時4次/秒、掃描模式10次/秒;
7.存儲容量:可存儲20組(每組最多99個測量值)厚度測量數據。
8.工作電壓:3V(2節AA尺寸鹼性電池串聯)
9.持續工作時間:約100小時(不開背光時)
10.外形尺寸:150×74×32 mm 11.整機重量:245g
數顯薄膜測厚儀
產品用途
數顯薄膜測厚儀主要用於測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量範圍寬、測量精度高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。
技術指標
1.測量範圍:(0-25)mm
2.解析度:0.001mm
3.電源:氧化銀電池SR44
4.工作溫度:0℃~+40℃
5.儲運溫度:-20~+70℃
6.相對濕度:≤80%