薄膜測厚儀採用機械式測量方法,適用於塑膠薄膜量程範圍內各種材料的精確厚度測量。
基本介紹
- 中文名:自動測厚儀
- 測量範圍:0~2mm(常規)(0~6mm可選
- 分 辨 率:0.1μm
- 測量速度:10次/min(可調)
薄膜測厚儀採用機械式測量方法,適用於塑膠薄膜量程範圍內各種材料的精確厚度測量。
薄膜測厚儀採用機械式測量方法,適用於塑膠薄膜量程範圍內各種材料的精確厚度測量。...... 關鍵字:高精度測厚儀,自動測厚儀,0.1um解析度測厚儀,薄膜測厚儀...
全自動測厚儀主要用於測量20㎜以下的各類型瓦楞紙板的厚度...... 全自動測厚儀主要用於測量20㎜以下的各類型瓦楞紙板的厚度.中文名 全自動測厚儀 符合標準 QB...
薄膜自動測厚儀是一種適用於4mm(可選擇)以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量的儀器。...
自動進樣測厚儀適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。...
測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中...
台式測厚儀適用於塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。 詞條主要介紹了台式測厚儀的用途、標準及相關技術指標。...
雷射測厚儀一般是由兩個雷射位移感測器上下對射的方式組成的,上下的兩個感測器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置,通過計算得到被測體的厚度。雷射測厚儀...
塗層測厚儀是一種攜帶型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行塗、鍍層厚度的測量。既可用於實驗室,也可用於工程現場。廣泛地套用在電鍍、防腐、航天航空、化工、...
薄膜測厚儀,又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等,薄膜測厚儀專業適用於量程範圍內的塑膠薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精確測量。...
超音波測厚儀是根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭通過精確測量超音波在材料中傳播的...
金屬測厚儀,也稱做金鎳測厚儀,也有很多人根據鍍層種類的不同叫法也不一樣。金屬測厚儀對相應的鍍層也有很多要求和藝。現在金屬的鍍層已發展到鋅鐵合金,如Zn-Fe...
超音波測厚儀是採用最新的高性能、低功耗微處理器技術, 超音波攜帶型測厚儀基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對材料的聲速進行測量。....
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心,...
超音波數顯測厚儀是採用最新的高性能、低功耗微處理器技術,基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對材料的聲速進行測量。...
塗層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性塗層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、...
ZTMS08非接觸式紙張測厚儀的出現,大大提高了紙張等片材厚度測量的精度,尤其是在自動化生產線上,得到廣泛套用。數顯紙張測厚儀測量範圍: (0~4)mm,分度值0.01mm...
板材雷射厚度檢測系統具有無輻射、成本低、便於維護特點,LPM系列雷射測厚儀是在充分借鑑了國外同類設備的特點基礎上,並針對國內熱軋現場惡劣環境條件,通過採用自主雷射...
現實生活中對材料覆蓋層的測量,已逐漸引入微機技術,採用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智慧型、多功能、高精度、實用化發展。測量的解析度已達0.1微米,精度可達到...
- 界面-回波模式,測量厚工件和塑膠時自動切換;- 外殼完全密封的金屬外殼,小巧、便攜,適用於惡劣的操作環境。高精度超音波測厚儀技術參數 編輯 ...
OU1600超音波測厚儀是時代最新研發的智慧型型超音波測厚儀,採用最新的高性能、低功耗微處理器技術,基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對...
OU1600測厚儀器是採用最新的高性能、低功耗微處理器技術,基於超音波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,並可以對材料的聲速進行測量。可以對生產設備中各種...
sw7超音波測厚儀是根據超音波脈衝反射原理來進行厚度測量的,當探頭髮射的超音波脈衝通過被測物體到達材料分界面時,脈衝被反射回探頭,通過精確測量超音波在材料中...
高精度塗層測厚儀(多用型)是一種多功能實用型攜帶型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行塗、鍍層厚度的測量。既可用於實驗室,也可用於工程現場。通過使用不同...
高精度超音波測厚儀WDT300,適用於各種材料的高精度厚度測量需求,可套用於鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、玻璃、聚乙烯、PVC,灰口鑄鐵、球墨鑄鐵等材質的被測物體...