良率，亦稱“合格率”。產品質量指標之一，指合格品量占全部加工品的百分率。在半導體工藝中，生產線良率表征的是晶圓從下線到成功出廠的機率；晶圓良率表征的是一片晶圓上的晶片合格率。生產線良率乘以晶圓良率就是總良率。
基本介紹
- 中文名：良率
- 別名：合格率
良率
相關詞條
- 良率
良率，亦稱“合格率”。產品質量指標之一，指合格品量占全部加工品的百分率。在半導體工藝中，生產線良率表征的是晶圓從下線到成功出廠的機率；晶圓良率表征的是一片晶圓上的晶片合格率。生產線良率乘以晶圓良率就是總良率。...
- 晶圓良率
最終良率主要由每一步工藝的良率的積組成，從晶圓製造，中測，封裝到成測,每一步都會對良率產生影響,其中晶圓製造因為工藝複雜，工藝步驟多步（300步左右）成為影響良率的主要因素。由此可見，晶圓良率越高，同一片晶圓上產出的好...
- 一種晶圓良率問題資料庫的搜尋方法和裝置
本發明實施例提供了一種晶圓良率問題資料庫的搜尋方法和裝置，晶圓良率問題資料庫為預先建立的，其中包括多個失效類別及其相關的失效特徵和對應的指證性數據，該方法包括：在多個第一晶圓圖中確定存在預定的失效模式的若干第二晶圓圖；提取...
- 良品率
良品率是指產線上，最終通過測試的良品數量占投入材料理論生產出的數量的比例。最終
- NCVM不導電電鍍
1. 良率：NCVM的良率比傳統的水電度要高，但是如果產品面積較大，則相應會低些；2. 套用：近幾年NCVM在手機鏡片、外殼、內部結構件以及汽車等內部su\\塑膠件套用較多，特別在手機零件上的套用有上升趨勢；目前眾多手機廠商已經開始(...
- 狀態參數驅動的晶圓製造系統建模與性能預測方法研究
在性能預測方面，基於晶圓製造系統狀態參數關係網路模型，套用數據驅動的思想，分別針對交貨期和良率兩個最重要的性能指標預測問題開展研究。針對交貨期預測問題，提出了一種基於數據挖掘的兩階段交貨期預測方法，設計了一種單步回歸算法從大量...
- 多晶矽定向凝固反向誘導泉涌效應的研究
理論除雜率可達90%以上，但由於凝固後矽錠末端雜質濃度遠高於先凝固區域，在濃度差驅動下雜質向已提純區域擴散，形成反擴散現象，大幅降低了矽錠的良率。如何抑制定向凝固過程中雜質反擴散行為，是一個急需解決的關鍵共性問題。本項目提出...
- 硼磷矽玻璃
如圖1，在一些晶圓最終的良率圖上有圓形（Round Type）和環形（Ring Type）的低良率圖案。其中S1~S25表示晶圓在晶舟中從下到上的位置。黑色表示良率失效的晶片，灰色則表示良率正常的晶片。其中一個有趣的現象就是S25並沒有圓形或...
- npf
NPF=NO PASS FIRST 首次測試失效， PF= PASS FIRST ,首次測試就成功，這兩個詞通常用於製造產品進行測試時，表示產品測試良率，判斷是真假失效。術語介紹 Netgroup Packet Filter 網路數據包過濾器 〖NPF Device driver〗NPF驅動器 網...
- 一種陣列基板及PSVA型液晶顯示面板
通過上述方式，該發明能夠提高PSVA製程的良率。2020年11月，《一種陣列基板及PSVA型液晶顯示面板》獲得第六屆廣東專利獎銀獎。（概述圖為《一種陣列基板及PSVA型液晶顯示面板》摘要附圖）專利背景 數據線作為液晶顯示面板數據信號的輸入...
- 集成掩模檢測系統
在半導體製造領域，掩模起著十分重要的作用，掩模的好壞直接影響著半導體產品的良率，因而檢測掩模的質量也成了必要的工序。通常，掩模在使用過程中很容易吸附粉塵顆粒，而較大粉塵顆粒很可能會直接影響掩模圖案的轉印質量，如果不進行處理會...
