紅外反射-吸收光譜

紅外反射-吸收光譜是一種利用紅外反射光研究吸附薄層的光譜分析技術，與吸附薄層和金屬載體的光學常數、人射角及人射光的極化性質有關。

入射光中與表面垂直的組分經反射後，在表面形成的電場矢量之和接近於零，只有與表面平行的組分經反射後才能夠被吸附層大量吸收，且以掠射角入射時才會有最大吸收，其吸收在10nm厚度範圍內與厚度呈線性相關，最大峰的頻率在反射後不會變化。該技術克服了電子光潛的真空條件，可以用於研究各種表面和界面體系，並能推側吸附分子的結構。吸附類型，已成為表面研究的例行方法。目前以色散型和傅立葉變換型紅外儀套用較為廣泛。