粉末樣品晶體結構測量儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2011年09月28日啟用。
基本介紹
- 中文名:粉末樣品晶體結構測量儀
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2011年09月28日
- 所屬類別:物理性能測試儀器
粉末樣品晶體結構測量儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2011年09月28日啟用。
粉末樣品晶體結構測量儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2011年09月28日啟用。技術指標 桌面型低功率,陶瓷靶300 W;Cu靶 Ka1,波長0.15405 nm;角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的...
在以粉能樣收集衍射數據基礎上進行的晶體結構解析稱作粉晶結構測定。粉.a13S結構測定在衍射實驗數據收集方法_七,較單晶法單純,紅樣品為粉晶、粉晶衍射儀只涉及ao角的轉動等其結構分析原理與單晶法相同,其結構分析步驟勺單Hf I }`} }...
《粉末衍射法晶體結構測定》是2011年科學出版社出版的圖書,作者是梁敬魁。內容簡介 該書簡要介紹了X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基礎概念、X射線粉末衍射的實驗方法和衍射強度的測量。系統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化...
24位高通量;。主要功能 1)判斷物質是否為晶體。 2)判斷是何種晶體物質。 3)判斷物質的晶型。 4)計算物質結構的應力。 5)定量計算混合物質的比例。 6)計算物質晶體結構數據。 7)和其他專業相結合會有更廣泛的用途。
功率2/3kW; 穩定度≤0.005%,最快定位速度:1000˚/min,角度重現性:0.0001˚,最小步長:0.002˚(θ),閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6。主要功能 銳影能夠在不破壞樣品結構下獲得詳細的化學組成、製造材料的晶體結構。
裝機功率:3kW;測角儀角度重現性:0.0001度;立式測角儀;掃描範圍:0至160°2θ;測角儀半徑240mm;探測範圍:0.5至4Mcps;粉末法研究可鑑定礦物,確定岩石樣品的礦物組成和百分含量,進行晶胞參數的修正,Rietveld結構修正;配有單...
中文名 X射線粉末衍射儀 外文名 X-ray powder diffractometer X射線粉末衍射儀用途:1,判斷物質是否為晶體。2,判斷是何種晶體物質。3,判斷物質的晶型。4,計算物質結構的應力。5,定量計算混合物質的比例。6,計算物質晶體結構數據。
最佳解析度: △d /d≈2×10-3 樣品處中子通量: >106n/cm2∙s 單色器: 垂直聚焦Ge(115) 波長: 1.886Ǻ 探測系統: 64×3He 計數管陣列。主要功能 主要用粉末樣品精確測定晶體結構、磁結構和相變研究,在超導材料、磁性材料...
0.0001°閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6 cps。主要功能 混合物相的定性分析;樣品的對照分析;晶體物相的定量分析;晶體材料微結構的表征(晶胞參數的精密測定,晶粒大小,微應力等);薄膜材料的研究;小角X衍射;結晶度分析。
溫度範圍:-150~450 ℃;控溫過程:程式溫度控制;控溫精度 ±0.1 ℃。主要功能 常規金屬和非金屬多晶粉末樣品物相分析;材料晶體結構隨溫度(高溫和低溫)的變化;電池材料在充放過程中材料的結構變化(需自備原位反應池)。
中子粉末衍射(Neutron powder diffraction)是用中子束作為源對粉末或微晶樣品進行衍射實驗,對材料的晶體結構和磁結構進行表征的中子散射技術。目錄 1 原理 2 裝置 3 套用 4 歷史 原理 理想情況下,每個可能的晶體取向在粉末試樣中可以...
計算未知物質的晶格常數?對於立方體結構,在粉末樣品中加入少量衍射本身高的物質,如Si粉,精確地測量與某個矽峰較接近的一個樣品峰,計算出兩個峰的衍射角,再查一下PDF卡片上矽峰的正確衍射角,加上測量值與標準值之差,就得到...
晶體結構及物相分析系統是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、能源科學技術領域的分析儀器,於2008年12月25日啟用。技術指標 X光管: 最大輸出:3KW; 管電壓:10~60kV(2kV/1step); 管電流:1~60mA(2mA/1step); 穩定性...
原子所在處電子密度應該很高,故依此可定出原子在晶胞中位置,得出晶體結構。但是從衍射強度獲得的是結構振幅|F|,|F|與F之間的關係見式⑶。如何求得各HKL衍射的相角αHKL就成為X射線單晶衍射解晶體結構的關鍵。要求儀器 基本要求 要按...
12.8 粉末晶體結構分析 12.9 晶粒度及晶格應變的測定 前言 X射線衍射技術是研究材料的晶體結構及其變化規律的不可或缺的有力工具,且X射線衍射分析方法具有所需樣品數量少、對樣品的破壞性微小、對結構和缺陷靈敏等特點,在冶金、機械...
第七章 YVO4晶體 7.1 YVO4晶體的結構與形態 7.2 YVO4的直角坐標與定向切割 7.2.1 YVO4的直角坐標 7.2.2 YVO4的定向切割 7.3 YVO4晶面夾角與極圖 7.3.1 晶面夾角計算 7.3.2 極圖的繪製 7.4 YVO4的雙品缺陷和晶面的...
近年來背散射電子衍射(EBSD)法在結構測定上亦得到廣泛套用。多晶體分析方法 粉末照相法 常用的是德拜--謝樂法,通過德拜相機拍攝出衍射線,從而計算出θ角→d→晶面和晶體結構。多晶體粉末的衍射花樣可以用照相法記錄,要解決的問題...
對於非晶體材料,由於其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序,只是在幾個原子範圍記憶體在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析...
>4×106 cps;99%線性範圍,>106 cps;最小背景,主要功能 可進行粉末及薄膜樣品的晶體結構分析,物相鑑定(物相定性、定量分析),相變分析,結晶度測定等。此外,還可進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。
周轉晶體法很容易分析對稱性較低的晶體(如正交、單斜、三斜等晶系晶體)結構,但套用較少。多晶衍射法 多晶X射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。照相法 照相法以光源發出的特徵X射線照射多晶樣品,並用底片記錄衍射花樣。根據樣品與...
121粉末照相法 122多晶衍射儀法 123同步輻射技術 第2章晶體學基礎與X射線運動學衍射原理 21晶體結構與磁結構 211晶體結構類型 212周期性和點陣空間 213點對稱 214點群 215磁結構...
珠寶檢測儀是待測樣品的一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度,對樣品進行定量,定性分析。原理 待測樣品的一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按...
中子粉末衍射儀基於中子彈性相干散射研究多晶材料的靜態結構。研究方向主要為材料的晶體結構和磁結構,辨認較輕原子和近鄰原子的占位和占位數,測定磁性原子磁矩的大小和方向,晶態、非晶態結構及其相變的快速測定等。
第1章晶體學基礎 4 1.1晶體與非晶體 4 1.2空間點陣和晶胞 5 1.3七大晶系與14種布拉菲點陣 5 1.4點群與空間群 6 1.5晶向指數和晶面指數 7 1.5.1晶向指數 7 1.5.2晶面指數 7 1.5.3金屬晶體中3種典型的晶體 結...
X-射線衍射法又分為粉末衍射和單晶衍射兩種,前者主要用於結晶物質的鑑別及純度檢查,後者主要用於分子量和晶體結構的測定。1.1 粉末衍射 粉末衍射是研究藥物多晶型的最常用的方法。粉末法研究的對象不是單晶體,而是眾多取向隨機的小晶體的...