晶體結構及物相分析系統是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、能源科學技術領域的分析儀器，於2008年12月25日啟用。
基本介紹
- 中文名：晶體結構及物相分析系統
- 產地：日本
- 學科領域：材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、能源科學技術
- 啟用日期：2008年12月25日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
X光管: 最大輸出:3KW; 管電壓:10~60kV(2kV/1step); 管電流:1~60mA(2mA/1step); 穩定性:±0.005%以內 (外界電源波動±10%時); X光管聚焦光斑: (0.2~1)×(10~20)mm (標準:0.4 x 12 mm); X 射線防護標準她漿犁: ≤5μSievert/h (10cm距離) 測角儀: 掃描方式: θ/θ 方式; 角度重現性: +/- 0.0001 度; 測角儀半徑: 200~320mm(標地犁準:240mm); 掃描範圍:-3°-145°(2θ); 最小步進: 0.001°; 掃描速度: 0.001~100°/min; 定位速度: 500°/min(θs/θd); 250°/min (θs、θd單動夜舟提端)。
主要功能
此設備利頸棗嘗巴用挨鞏祝X射線對金屬、feiku金屬多晶以及單項樣品進行定性或者定量分析，同時對薄膜（單層或者多層）樣品分析、粉體樣品的物相分析、顆粒粒徑分析循市榜、晶胞參數分析兵微估等項目有較強的檢測能力。
