高輝度大面積柱狀面探系統是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器，於2014年11月27日啟用。
基本介紹
- 中文名：高輝度大面積柱狀面探系統
- 產地：日本
- 學科領域：物理學、化學
- 啟用日期：2014年11月27日
- 所屬類別：物理性能測試儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
最大功率：1200W；出射焦斑：0.07x0.07mm；靶材料：Cu/Mo；檢出面積：466x256。
主要功能
對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑑定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑑定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定（晶體結構分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可精確地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數。
