基本介紹
- 中文名:
- 作者:
- 出版社:
- 出版時間:
- 頁數:
- 開本:
- ISBN:
- 外文名:
- 語種:
本機如加配 HQ-710E 數據處理器,測量矽片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正,並計算、列印出矽片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。技術參數 (1)測量範圍: 可測電...
矽料綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用於半導體及太陽能行業的矽料,矽棒矽塊矽片的電阻率型號測試。儀器簡介 電阻率型號綜合測試儀是運用四探針測量原理的多...
GB/T 11073-2007 矽片徑向電阻率變化的測量方法 GB/T 13387-2009 矽及其他電子材料晶片參考面長度測量方法 GB/T 13388-2009 矽片參考面結晶學取向X射線測試方法 GB/T 14140-2009 矽片直徑測量方法 GB/T 14141-2009 矽外延層、擴散...
GB/T 11073—2007 矽片徑向電阻率變化的測量方法 GB/T 12965—2005矽單晶切割片和研磨片 GB/T 14140—2009矽片直徑測量方法 GB/T 19444—2004 矽片氧沉澱特性的測定一間隙氧含量減少法 YS/T 26—1992矽片邊緣輪廓檢驗方法 DB61/T ...