矽料綜合測試儀

矽料綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用於半導體及太陽能行業的矽料，矽棒矽塊矽片的電阻率型號測試。

基本介紹

• 中文名：矽料綜合測試儀
• 原理：四探針測量
• 類型：多功能綜合測試裝置
• 用途：半導體及太陽能行業的矽料

儀器簡介

電阻率型號綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用於半導體及太陽能行業的矽料,矽棒矽塊矽片的電阻率型號測試。

儀器特點

■ 適中的體積和便攜性

HS-PSRT矽料綜合檢查儀

■ 操作簡單，測試快速

■ 同時檢測矽半導體材料的電阻率和型號兩項指標。

■ 儀器採用220V交流電源供電HS-PSRT矽材料綜合測試儀

■ 擁有較高的電阻率測試解析度，最小可到0.001 歐姆.厘米”

■ 能精確的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的矽半導體材料型號

■ 獨立的P/N 型重摻告警設定，便於工廠大規模快速選料

部分技術參數

■ 電阻率：0.001～100Ω·cm

■ 精度：±5%±2LSB）

■ 電源： AC 220V ± 10% ， 50HZ

■ 功耗：最大功耗 ≤1W