白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。
基本介紹
- 中文名:白光干涉3D表面輪廓儀
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2018年9月17日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。技術指標 1、白光干涉垂直掃描技術要求:垂直掃描範圍:0-150m(壓電陶瓷掃描)縱向解析度:0~150um範圍內≤0.1nm 2、擴展掃描範圍:150um~15mm(步進電機掃描) 3、基於2技術要求的全部範圍和條件下,測試能力要求達到:可測量...
SuperView W1光學3D表面輪廓儀是一款用於對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模組、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描並建立表面3D圖像,通過系統軟體對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,並獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D...
白光掃描干涉輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、機械工程、紡織科學技術領域的物理性能測試儀器,於2012年5月11日啟用。技術指標 垂直解析度(縱向) <0.1 nm Z軸調整≤350mm 精度0.11μm RMS重複精度 ≤0.01 nm RMS 垂直掃描範圍 150μm 測量時間 5~20s 掃描速度 ≤135μm/s 採樣數據點640×480...
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2019年9月9日啟用。技術指標 垂直掃描範圍 150um壓電陶瓷驅動,20mm擴展掃描 重複性 <0.1nm RMS重複性 0.01nm 橫向分辨 空間採樣 0.30um(100X物鏡) 0.04um(100x物鏡,2倍zoom) 掃描速度 最大96um/s 台階測量 線性度 重複性≤0.1% 小於20nm或者0.1%...
白光光學輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2013年12月20日啟用。技術指標 掃描頭內部集成的±6°傾斜調製系統 集成最新一代高亮度雙LED光源,FOV自動轉動塔台 放大倍率物鏡:2.5×,20×,50×; 固定倍率目鏡:0.55×,1×, 2×。主要功能 適用於表面的輪廓和其表面粗糙度測量,也可套用於反射式與透射...
掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2013年11月12日啟用。技術指標 接觸式橫向掃描範圍:150mm(3D掃描範圍150mm×150mm)大尺寸納米級平整測量平台:150mm×150mm接觸式最大樣品高度:50mm(或100mm)光學膜厚測量厚度範圍:1nm-100um光學厚度解析度:0.1nm光學厚度重複性:0.3nm。主要功能...
透過分光鏡12的測量光束與被分光鏡12反射的參考光束產生拍波;由探測器13接收,產生參考信號,而從被測面返回的兩束光由分光鏡10反射進入探測器12產生測量信號將探測器11、13接收到的測量與參考信號送入相位計進行比相,於是可測得表面輪廓高度值從理論推導中可以看到,干涉儀二臂不共路部分的相位差通過比相,其影響...