基本介紹
- 中文名:注氧隔離技術
- 英語縮寫:SIMOX
注氧隔離技術,英語縮寫SIMOX。通過在矽等半導體材料中注入氧離子並經高溫退火製備絕緣體上矽材料的技術。是最為成熟的絕緣體上矽技術之一。其原理是:先將一定能量、高劑量氧注入單晶矽中。為防止矽在注入過程中非晶化,在注入過程...
內氧化-注氧隔離技術,英語縮寫ITOX。經改進的一種注氧隔離新技術。在較低劑量氧注入後繼以高溫熱氧化處理過程。減少了絕緣體上矽頂層矽的位錯密度,提高了頂層矽和二氧化矽絕緣埋層的厚度均勻性及表面、界面的平面度,可減少二氧化矽絕緣...
SOI全稱為Silicon-On-Insulator,即絕緣襯底上的矽,該技術是在頂層矽和背襯底之間引入了一層埋氧化層。簡介 材料通過在絕緣體上形成半導體薄膜,SOI材料具有了體矽所無法比擬的優點:可以實現積體電路中元器件的介質隔離,徹底消除了體矽...
以注氧隔離(SIMOX)技術製備高阻SOI材料 矽中注H+引起的缺陷和應力以及剝離的機制 以AlN為絕緣埋層的新結構SOAN材料 多孔矽外延層轉移技術製備SOI材料 ELTRAN技術製備雙埋層SOIM新結構 SOI新結構——SOI研究的新動向 Fabrication of ...
《矽基光波導調製技術及其光開關陣列的研究》是依託西安電子科技大學,由趙策洲擔任項目負責人的青年科學基金項目。 中文摘要 基於大截面單模脊形波導條件,全內反射和電漿色散效應,通過結構參數和工藝參數的設計和全內反射與無間距定向...
介質隔離 介質隔離(dielectric isolation)是1993年公布的電子學名詞,出自《電子學名詞》第一版。公布時間 1993年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
3.10.1 MOS IC的隔離 3.10.2 雙極IC中的基本隔離技術 3.11 絕緣物上矽 3.11.1 SOI技術 3.11.2 注氧隔離技術(Seperation by Implantation of Oxygen SIMOX)3.11.3 矽片粘合技術(Wafer Bonding Technique)3.12 CMOS集成...
( 65 ) 注氧隔離技術製備全介質隔離的矽量子線的方法, 2005, 第 1 作者, 專利號: CN1199249C ( 66 ) 降低絕緣體上的矽電晶體源漏串聯電阻的結構及實現方法, 2005, 第 1 作者, 專利號: CN1193432C ( 67 ) 一種...
擁有SIMOX(注氧隔離)、Bonding(鍵合)和Simbond(完全自主開發的SOI新技術)三類SOI晶片製造技術,能夠提供100mm(4英寸)、125mm(5英寸)和150mm(6英寸)SOI晶片和SOI外延片,小批量提供8英寸SOI片。產品系列包括高劑量、低劑量、...
(2) 基於注氧隔離技術的絕緣體上鍺矽材料及其製備技術,發明,2005,第1作者,專利號:200410066673.3 所獲榮譽 曾獲得全國百篇優秀博士學位論文(2008)、中國科學院院長獎特別獎(2006)、美國Los Alamos國家實驗室主任基金(2006)...
行動電話、攜帶型電子設備電路。SIMOX(separation by implantation of oxygen, separation with implanted oxygen):注氧隔離 技術特點:1.可實現完全介質隔離 2.低壓、低功耗 3.運行速度快 4.抗輻射性能好 5.耐高溫 ...
絕緣體上鍺矽材料,英語縮寫SGOI。由絕緣襯底和鍺矽層組成的矽基半導體材料。結合了絕緣體上矽和鍺矽兩種先進技術的優勢。製備技術有注氧隔離、智慧型剝離等。是應變矽技術的理想襯底材料。廣泛用於矽基微電子、光電子等領域。