基本介紹
- 中文名:步進光刻機
- 外文名:stepper
步進式光刻機是一種用於製造積體電路(IC)的裝置,其在微小的矽片表面上可以形成數百萬個微觀電路元件,是複雜工藝的重要組成部分。步進式光刻機光路示意圖如圖1,所示步進式光刻機使光穿過掩模版,從而形成掩模版圖案的圖像。圖像通過...
光刻機的品牌眾多,根據採用不同技術路線的可以歸納成如下幾類:高端的投影式光刻機可分為步進投影和掃描投影光刻機兩種,解析度通常七納米至幾微米之間,高端光刻機號稱世界上最精密的儀器,世界上已有1.2億美金一台的光刻機。高端光...
步進投影光刻機是一種用於信息科學與系統科學、物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的工藝試驗儀器,於2015年5月22日啟用。技術指標 解析度: 0.35um;套刻精度≦ 40nm;波長:i-Line (365nm);寫場大小22mmx22mm;縮放...
已知的光刻設備包括步進重複式和步進掃描式。2011年之前的技術中所公開的使用縮減倍率投影物鏡的步進光刻機中,該投影物鏡的倍率為縮減的,即按1:N的比率將掩模圖案通過投影物鏡投射於基底上。2011年之前的技術中所公開的步進光刻機所...
《光刻巨人:ASML崛起之路》是一本人民郵電出版社出版的圖書,作者是[荷蘭]瑞尼·雷吉梅克。《光刻巨人:ASML崛起之路》中,作者瑞尼·雷吉梅克帶我們重返了晶圓步進光刻機的誕生地,和我們一起探索了ASML在全球獲得令人矚目的成功之根源...
1、水隨著光刻機在晶圓表面做步進-掃描運動,沒有泄露;2、水中沒有氣泡和顆粒。在193nm波長下,水的折射率是1.44,可以實現NA大於1。圖3 是浸沒式光刻機曝光頭的示意圖。去離子水經過進一步去雜質、去氣泡(degassing)、恆溫之後...
掩模版上的對準標記在掩模版的左右兩側,與安裝在步進光刻機機身上的基準標記對準。整場對準(GA)標記在第一次曝光時被光刻在矽片左右兩邊,它用於進行每個矽片的粗對準。精對準(FA)標記是在每個場曝光時被光刻的。精對準標記用於...
尼康的G-line、I-line步進式光刻機(stepper)、投影式光刻機在全球晶圓廠大量使用。所有人都知道英特爾在全球半導體製造業中較為先進,但新型半導體工藝的實現並不是Intel一家就能做到的,背後默默貢獻半導體設備的功臣卻往往不為人所知...
《一種投影物鏡系統》涉及用於製作半導體晶片或其他微器件的步進式光刻機中的投影物鏡系統。從物面至像面依次排有:一具有正光焦度的第一透鏡組;一光焦度為負的第二透鏡組;一光焦度為正的第三透鏡組;一光焦度為負的第四透鏡組...
該系統通過平面電機直接驅動矽片台實現平面上的雙台交換和步進掃描運動,提高了光刻機的生產率、套刻精度和解析度。 [2] 2018年12月20日,《採用氣浮平面電機的矽片台雙台交換系統》獲得第二十屆中國專利銀獎。 [3] (概述圖為《...
作為項目負責人完成中國科學院知識創新工程重要方向項目“偏振光導航定位技術研究”,主要指標已通過華東國家計量測試中心現場檢測;作為主要完成人參加國家863重大專項“100nm步進掃描投影光刻機調焦調平測控分系統的研究”、中科院國防預研項目...
近些年,主要從事高速超精半導體裝備,如後道微電子封裝設備(如引線鍵合機等)、前道製造設備(100nm步進掃描光刻機)的研究工作。多次受邀參加國內外舉辦的高水平的學術會議等。於2006年8月獲上海浦江人才計畫資助的項目“雙軸驅動高速高精...
( 13 ) 步進掃描投影光刻機的照明系統, 發明, 2015, 第 1 作者, 專利號: ZL201310270245.1 ( 14 ) 相位延遲量分布和快軸方位角分布實時測量裝置和方法, 發明, 2015, 第 1 作者, 專利號: ZL201210199435.4 ( 15 ) ...
(2)本實驗室承擔了100nm光刻機、RFID電子標籤封裝設備等多個國家級重大專項課題的研究工作,研究成果在100nmArF準分子雷射步進掃描投影光刻機得到成功套用,並研製出我國第一台RFID電子標籤封裝裝備。(3)本實驗室提出了一整套雷射切割...
大型積體電路光刻工藝中使用的都是步進-掃描式光刻機(scanner),以及與之相配套的倍縮式掩模。在日常交流中,倍縮式掩模仍然被簡稱為掩模。表1 掩模與倍縮式掩模之間的區別 製作 掩模版本身也是一個微細加工過程。它涉及曝光、顯影...
3. 曝光:利用一台步進式光刻機進行曝光;將襯底定在樣品台上,並將光刻版對準襯底(由於是第一步光刻,不需要按照套刻標記進行對準),用波長在320-380nm範圍內的紫外光透過光刻版照射襯底6秒鐘,光刻正膠的曝光部分即被分解為可以...
1. 劉世元, 裴辛哲, 周暢, 陳勇輝. 步進掃描光刻機連續掃描同步控制方法和系統. 專利號: ZL200410066384.3。2. 劉世元, 陳勇輝, 池峰, 周暢, 韋學志. 步進掃描投影光刻機同步匯流排控制器及同步控制系統. 申請號: 200510023858.0。...
十五期間完成了國家863重大專項“100nm步進投影光刻機研製”中的關鍵技術“100nm移相掩模分系統技術設計”,同時為該重大項目提供了成套測試掩模。開展了X射線、EUV和SCALPEL掩模模板方面的探索工作。負責制定了七項微光刻技術的國家標準,...
11.4 步進式光刻機的匹配(工廠控制)11.5 快速熱處理 11.6 等離子蝕刻 11.7 化學機械拋光 11.8 結論 參考文獻 第12章 聚合過程控制 12.1 引言及概述 12.2 背景:聚合機制和過程 12.3 連續過程 12.4 不連續過程 1...