橢圓偏振光譜分析儀是一種用於統計學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:橢圓偏振光譜分析儀
- 產地:法國
- 學科領域:統計學
- 啟用日期:2005年11月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
橢圓偏振光譜分析儀是一種用於統計學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。
橢圓偏振光譜分析儀 橢圓偏振光譜分析儀是一種用於統計學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。技術指標 210-2000nM。主要功能 橢圓偏振光譜分析儀。
光譜型橢圓偏振儀是一種用於物理學、化學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2011年7月14日啟用。技術指標 波長範圍:245nm~1000nm; 入射角範圍:75°或入射角在45°到90°手動/自動連續可調; 樣品尺寸:10×10mm~150×150mm,滿足薄膜樣品厚度1nm~5 μm的測量,同時滿足10nm以下...
橢圓偏振儀是一種用於物理學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的計量儀器,於2010年3月1日啟用。技術指標 光譜範圍:高穩定性的 150 W;氙燈光源:光譜範圍:190 –880 nm, 1200 gr/mm 的光柵;入射角度全自動可變:40-90度,步長0.05度,精度0.01度;Psi和Delta的精度很高:空氣中,當: Psi=45度;...
偏振分析儀是一種用於材料科學領域的電子測量儀器,於2010年03月01日啟用。技術指標 可以實現從500nm到1500nm波長範圍的快速精確橢偏測量。厚度範圍從1nm到2um,入射角從0°到90°可調,採用氙燈光源。採用專用的光譜橢偏測量軟體。主要功能 VB-400 Vase Ellispometer橢偏儀是JA.WollamCO.,Inc公司生產的一套高性能...
橢圓偏振技術(ellipsometry)是一種多功能和強大的光學技術,可用以取得薄膜的介電性質(複數折射率或介電常數)。它已被套用在許多不同的領域,從基礎研究到工業套用,如半導體物理研究、微電子學和生物學。橢圓偏振是一個很敏感的薄膜性質測量技術,且具有非破壞性和非接觸之優點。分析自樣品反射之偏振光的改變,...
成像橢偏技術可以實現和多種技術聯用,如布魯斯特角顯微鏡、表面等離子共振、原子力顯微鏡、石英晶體微天平、LB槽、反射光譜儀、太赫茲光譜儀以及拉曼光譜儀等等。傳統橢偏技術在光譜的每個波長至少測試兩組數據。如果套用廣義成像橢偏技術可以在每個波長的測量得到16個參數。橢圓偏振技術測量強度比而不是純粹光的強度。因此...
圓二色及圓偏振螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年7月13日啟用。技術指標 ① 光 源: 150W氙燈;300W氙燈 ② 激發單色器: 1200 l/mm, 350nm雙凹面光柵; ③ 發射單色器: 1200 l/mm, 450nm雙凹面光柵; ④ 波長範圍: 185-1100 nm ⑤ 測量波長範圍(探測器): 200-800 nm; ⑥ 光譜頻寬: ...
偏振X射線螢光光譜儀 偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年6月25日啟用。技術指標 鈀靶X射線管: 最大功率50W最大電壓50kV 檢測系統:能量解析度小於或等於160電子伏特。主要功能 分析Mg-U元素,同時獲套用化學得套用化學各元素的光譜信套用化學息,並以此進行定量分析。
偏振型X射線螢光光譜儀 偏振型X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年10月24日啟用。技術指標 XEPOS偏振型X射線螢光光譜儀,滿足輕元素成分測定。主要功能 快速測定元素含量。
偏振儀是可用於螢光強度,時間分辨螢光,螢光偏振,吸收光和化學發光的檢測的儀器。簡介 偏振儀,頂部和底部有兩種測讀模式: 45oC 孵育(可選擇60 oC)。多種振盪模式可根據需要配備加樣器,移液範圍為5-350 μl,0.5μL 遞增,每個孔可以加不同體積,且每個空最多可加4次樣。慢速及快速動力學—最快可達...
圓偏振螢光光譜儀 圓偏振螢光光譜儀是一種用於化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2017年3月16日啟用。技術指標 150W氙氣;雙稜鏡單色器;1~300um狹縫。主要功能 圓偏振態分析。
EGSM 光束 在 湍 流 大 氣 中 水 平 傳 輸 時 偏 振 度的變化規律.B.Ghafar y等分析了部分相干平頂光束在湍流大氣中水平傳輸時, 光束的偏振度、 方位角和橢圓度的變化情況. 楊帆等人研究了部分相干電磁平頂光束在湍流大氣傳輸中偏振度、 相干度以及光譜特性的變化情況. 季小玲等分析出部分相干電磁厄米...
《基於分形理論的電化學原位橢圓偏振光譜分析新方法》是依託重慶大學,由李凌傑擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要 建立以光學分形維數新參量為核心的電化學原位橢圓偏振光譜分析新方法。新參量比電化學參量更靈敏、比傳統橢圓偏振參量包含更豐富的體系演化特徵信息;新方法能解決傳統方法光學模型依賴性強、不適於...