可以簡單看作是個單探針電阻儀測得的電阻,一般是定義Ldd附近的電阻,電流擴散到一個更大面積時候的電阻。
基本介紹
- 中文名:擴展電阻
- 釋義:電流擴散到一個更大面積時候的電阻
- 類型:電阻
可以簡單看作是個單探針電阻儀測得的電阻,一般是定義Ldd附近的電阻,電流擴散到一個更大面積時候的電阻。
擴展電阻法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 通過測量金屬探針與半導體接觸形成的擴展電阻,根據已有的擴展電阻與電阻率的校正曲線,獲得半導體微區電阻率的電學測量技術。此方法可用於測量半導體器件中載流子濃度的縱向分布等。出處 《...
基區擴展電阻rbb’是指雙極型電晶體在發射區的正下方、與結面平行的電阻 (即兩個2 rbb’的並聯電阻);因為基極電流IB在發射區下方是不均勻橫向流動的 (在流向發射極中央時不斷減小),故這部分基區的電阻是擴展的電阻。電阻概念 基...
參數μ是橢圓的垂直半軸長度,虛線為電流多少的分界線(如0.25I則表示有25%的電流流經該虛線上面的區域)。當μ較大時等勢面之間的擴展電阻(spreading resistance) 為:其中ρ為材料的電阻率 則總的收縮電阻 是擴展電阻的2倍,為...
SRP SRP,擴展電阻剖面分布法的簡稱 。
《矽片電阻率測定 擴展電阻探針法(GB/T 6617-2009)》測量儀器和環境增加了自動測量儀器的範圍和精度;對原測量程式進行全面修改;刪去測量結果計算。本標準由全國半導體設備和材料標準化技術委員會提出。本標準由全國半導體設備和材料標準化...
四探針電阻率測試儀是一種測量半導體材料的電阻率的儀器。對於半導體材料的電阻率,一般採用四探針、三探針和擴展電阻。電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數之一。測量電阻率的方法很多,四探針法是一種廣泛採用的標準方法。它的優點是...
《半導體材料測試與分析》主要介紹半導體材料的各種測試分析技術,涉及測試技術的基本原理、儀器結構、樣品製備和套用實例等內容:包括四探針電阻率、無接觸電阻率、擴展電阻、微波光電導衰減、霍爾效應、紅外光譜、深能級瞬態譜、正電子湮沒、...
傳統的結深測試方法有:汞探針電容法、擴展電阻法、染色SEM法等。結深的測量,通常在100ml HF(49%)加幾滴HNO₃的混合液中對磨斜角(1°~5°)的樣品做化學染色,有時只要HF就夠了。如果樣品置於強光下照一兩分鐘,P型區要...