擴展X射線吸收精細結構譜是物理學中研究射線的圖譜,具有一定的物理學公式進行驗算。
基本介紹
- 中文名:擴展X射線吸收精細結構譜
- 類別:物理學
- 類型:圖譜
- 驗算:物理公式
基本信息
1931年R. del克朗尼格首先對擴展X射線K吸收精細結構譜用晶體的長程式理論進行了計算。以後他又提出了短程式理論。短程式理論經不斷改進,到1970年E.A.斯特恩等套用短程式理論(單電子,單次散射近似)計算K吸收譜(也適用於L1吸收譜),得到了較好的結果。
計算得到的擴展X 射線吸收精細結構譜為式中m是電子的質量,啚=h/2π,h是普朗克常數,k是光電子波矢,Nj是第j層配位球殼上的原子數,Rj是吸收原子至第j層原子的平均徑向距離,tj(2k)是第j層原子的背散射振幅,λ是電子的平均自由程,σ嵂是德拜—瓦勒因子,δj(k)是吸收原子與背散射原子的勢能引起的相移。
套用以上結果,由實驗測定的X(k)經傅立葉變換及有關計算可得到物質中每一類組成原子的徑向結構函式,從而給出吸收原子與鄰近原子間的距離、近鄰原子數等結構數據。比較不同溫度下的測量結果還可獲得德拜—瓦勒因子。
近年來由於強輻射源的出現以及相應實驗技術的改進,擴展X 射線吸收精細結構譜已經成為研究複雜晶體、非晶態、生物大分子,以及催化劑等材料結構等的較好方法。
近年發展起來的尚有表面擴展X射線吸收精細結構譜,電子能量損失譜等。其原理與X 射線吸收精細結構譜相類似。
參考書目
陸坤權、趙雅琴、常龍存:《物理學報》,第33卷,第1693頁,1984。