成像橢偏儀是一種用於機械工程領域的儀器,於2017年5月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:成像橢偏儀
- 產地:德國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2017年5月15日
成像橢偏儀是一種用於機械工程領域的儀器,於2017年5月15日啟用。
成像橢偏儀是一種用於機械工程領域的儀器,於2017年5月15日啟用。技術指標圖像寬度:400μm;橫向解析度:<1μm;入射角範圍:38°~90°;角度解析度:0.001°;絕對角解析度:0.01°。1主要功能對超薄膜的...
橢偏技術是測量檢測薄膜的介電性質(復折射係數或介電函式)、膜厚以及表面形貌的一種光學測量技術。採用成像技術實現對被測樣品橢偏成像的儀器就是成像橢偏儀。成像橢偏儀可對微區薄膜進行分析,也可實現動態的橢偏測量,並和其他各種技術聯用。相比較傳統的橢偏技術成像橢偏技術有較多優點。橢偏技術 橢偏儀是一種用於...
光譜型成像橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年09月01日啟用。 中文名 光譜型成像橢偏儀 產地 德國 學科領域 物理學、材料科學 啟用日期 2017年09月01日 所屬類別 物理性能測試儀器 > 光電測量儀器 目錄 1技術指標 2主要功能 ...
實驗結果表明,廣義成像橢偏儀既可以實現單像素大小照明光斑區域內光譜穆勒矩陣的準確測量與分析,也可以快速準確地重構出大面積區域內待測納米結構具有像素大小橫向解析度的三維顯微形貌。 項目所研製的廣義成像橢偏儀既具有傳統廣義橢偏儀測量信息全、光譜靈敏度高的優勢,同時又具有顯微成像技術高空間解析度的優點,有望為...
自主搭建SPR成像橢偏儀,採用傾斜成像技術消除圖像離焦,自準直儀實現樣品重複定位,降低吸收提升光束功率穩定性,基於光柵尺反饋精確控制測試角度,搭建的成像橢偏儀測試結果與標準橢偏儀吻合,在此基礎上嵌入Otto結構採用毫米光束激發SPR,獲得橢偏參數隨氣隙厚度的變化曲線,反演獲得光學常數。 在光譜型橢偏儀中嵌入Otto結...
光譜橢偏系統 光譜橢偏系統是一種用於力學、工程與技術科學基礎學科、生物學領域的分析儀器,於2018年3月8日啟用。技術指標 測量橢圓參數(TANψ,COSΔ) 光學常數(n:折射率,k:消光係數)分析 薄膜厚度分析。主要功能 材料/薄膜光學參數。
成像橢偏分析儀 成像橢偏分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年11月12日啟用。技術指標 聯繫儀器負責老師。主要功能 用於探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量儀器。由於測量精度高,適用於超薄膜,與樣品非接觸,對樣品沒有破壞且不需要真空,使得橢偏儀成為一種極具吸引力的測量儀器。
光譜式橢偏儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2013年01月06日啟用。技術指標 光譜範圍:深紫外,可見光,近紅外(190nm~2400nm)波長解析度:全譜段要求不大於0.5nm厚度測量範圍:1nm-10um,厚度測量精度:0.1A微光斑全自動操作。主要功能 測量各類(包括電介質、有機物、半導體、金屬等)薄膜(包括透明...
橢圓偏振成像 使用CCD攝影機作為偵檢器,可使橢圓偏振成為一成像技術。這個技術可提供樣品即時的對比影像,並獲得薄膜厚度及其反射率等信息。其所用的理論為經典歸零式橢圓偏振原理,及即時的橢圓偏振對比影像,使用單一波長雷射光源的橢偏儀(橢圓偏振儀)。雷射光束在通過線性偏光鏡(P)及四分之一波長延相器(C)後...
3. 中國博士後科學基金面上項目,2016M602288,基於穆勒矩陣成像橢偏儀的OLED原位測量理論與方法研究,2016/09-2018/09,5萬元,已結題,主持。4. 華中科技大學-精測集團聯合研發項目,無圖案晶圓表面缺陷檢測關鍵技術研究,2019/01-2021/12,300萬元,在研,主持。5. 武漢華星光電技術有限公司產學研合作項目,多...
(9) 穆勒矩陣成像橢偏儀誤差源的簡化分析方法, 光學學報, 2019, 第 4 作者 (10) 基於差分空間像主成分分析的偏振像差檢測方法, 光學學報, 2019, 第 4 作者 (11) Passively Driven Probe Based on Miniaturized Propeller for Intravascular Optical Coherence Tomography, Scientific reports, 2018, 第 4 ...
波長範圍:400nm到1000 nm 波長解析度: 1nm 光斑尺寸:100µm (4x), 40µm (10x), 8µm (50x) 樣品尺寸:標準150×150mm 基片尺寸:最多可至20mm厚 測量厚度範圍: 10nm 到25 µm 測量時間:最快2毫秒 精確度:優於0.5%(通過使用相同的光學常數,讓橢偏儀的結果與熱氧化物樣品...
晶萃光學擁有全套光學、機械檢驗設備,包括Zygo干涉儀、TRIOPTICS焦距儀、Agilent Cary 7000分光光度計、J.A.Woollam橢偏儀、ZEISS三坐標測量機等。同時,完善的質量管理與保障體系為產品質量的穩定性保障 。發展歷程 2017年2月,設立於常 熟,開展液晶光學元件及材料、系統相關的研發、生產和銷售業務 。2021年5月,...
( 1 ) 橢偏儀測量超薄膜層的精度提升方法和裝置, 2016, 第 1 作者, 專利號: 201610852448.5 ( 2 ) 超薄薄膜厚度和光學常數的測量裝置和測量方法, 2016, 第 1 作者, 專利號: 201610415169.2 ( 3 ) 光學元件體內雷射損傷自動快速探測裝置, 2016, 第 1 作者, 專利號: 201310161404.4 ( 4 ) 高溫...
8. 侯俊峰; 王東光; 鄧元勇; 張志勇; 孫英姿; 斯托克斯橢偏儀的非線性最小二乘擬合偏振定標, 光學精密工程, 2013, (08): 1915-1922. 9. 侯俊峰; 王東光; 鄧元勇; 孫英姿; 張志勇; 基於非線性最小二乘擬合法的Mue ller矩陣橢偏儀, 中國雷射, 2013, 40(4): 184-191.10. 侯俊峰; 於佳; 王東光; ...
微重力燃燒等實驗系統;開展空間材料科學研究的半導體晶體、氣相外延、金屬合金成核過冷、非透明介質、透明晶體生長等實驗系統;開展生物力學和空間生物技術研究的蛋白質晶體生長、空間細胞生長和組織培養、連續流電泳、微管吸吮、雷射顯微光鑷、原子力顯微等實驗系統;以及開展納米生物技術研究的光學橢偏成像系統等,共同組成...
生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,學生顯微鏡,工業顯微鏡,數碼顯微鏡,珠寶顯微鏡,讀數顯微鏡,工具顯微鏡,相差顯微鏡,偏光顯微鏡,視頻顯微鏡,手術顯微鏡,顯微圖像分析系統,雷射測距儀,橢偏儀,望遠鏡,放大鏡,倒置螢光顯微鏡,螢光顯微鏡,倒置顯微鏡,更多 環保設備/流量儀表 水處理設備,全自動軟化水設備,全自動...
進行合作交流,同時本實驗室專家也有多人赴其他國內外高校及科研機構進行訪問、研修及合作研究,形成了全方位合作交流的新局面。實驗室有變角光譜式橢偏儀、大功率單頻綠光雷射器、OMA光學多道分析儀、寬頻光譜分析儀、高精度CCD成像儀等一批先進的科研儀器,為科研工作的順利進行提供了強有力保障。
♦ 1977年的拉曼分子顯微探針(IR100獎),順序掃描型ICP光譜儀;♦ 1975年的全計算機化光子計數拉曼光譜儀和全計算機化光子計數螢光光譜儀;♦ 1983年的離子刻蝕“閃耀”全息光柵;♦ 1985年的光柵型波分復用器;♦ 1989年的超級校正全息光柵和二維成像光譜儀;♦ 1996年榮獲法國CNRS最佳橢偏儀獎;♦ 1998...
[5] 韓培高等,一種橢圓偏振光譜儀中單色儀的校準,發明專利,2014.10.[6] 韓培高等,基於橢偏光譜儀的石英晶體1310nm處雙折射率的精密測量,光譜學與光譜分析,2012.04.[7] Peigao han etal.Photoluminescence from intermediate phase silicon structure and nanocrystalline silicon in plasma enhanced chemical ...
實驗5. 2 基於衍射法的粒子尺寸測量———雷射粒度儀 87 實驗5. 3 基於干涉粒子成像技術的粒子尺寸測量 90 實驗5. 4 基於數字全息干涉技術的晶體電光係數測量 94 實驗5. 5 基於反射光譜測量薄膜的厚度 99 實驗5. 6 波帶片的拓展及其聚焦和成像特性 100 實驗5. 7 利用橢偏儀測量薄膜的厚度和折射率 104 實驗...
3.1 近場光學成像概述 71 3.1.1 經典成像:阿貝成像原理 71 3.1.2 近場光學成像的原理 73 3.1.3 近場光學成像的發展歷程 74 3.2 固體浸沒顯微術 76 3.2.1 固體浸沒透鏡 77 3.2.2 數值孔徑增加透鏡 79 3.2.3 微加工固體浸沒透鏡 82 3.2.4 固體浸沒式橢偏儀 83 3.3 表面等離激元顯微術 ...
1.4.6橢偏儀在薄膜測量中的套用 1.4.7偏振調製型光電感測器的設計 1.5波長調製型光電感測器 1.5.1概述 1.5.2雷射都卜勒測速 1.5.3雷射感生螢光測溫 1.5.4雷射拉曼散射光譜測溫 1.5.5相干反斯托克斯拉曼光譜測溫技術 1.6光測高溫術 1.6.1維恩位移定律 1.6.2光測高溫 1.7衍射型光電感測器 1.7....
以光譜為核心、熱點技術為擴展,課程覆蓋分子光譜(拉曼、螢光)、表面測量(橢偏)、元素分析及粒度表征等諸多產品及套用領域。2、對話HORIBA資深專家和行內知名教授 課程將邀請HORIBA國內外資深專家對基礎知識進行講解,同時邀請行業內知名教授、學者與大家分享套用經驗。3、線上線下多重學習模式相結合,選擇更靈活 強大...
光譜橢偏儀 SE 850 DUV 34 納米加工技術實驗室 矽刻蝕高密度電漿刻蝕機 Plasmalab System100 ICP180 35 納米檢測實驗室 雷射拉曼光譜儀 Renishaw inVia plus 36 納米檢測實驗室 冷場發射掃描電子顯微鏡 Hitachi S4800+EDS 37 納米中心所級服務中心 離子阱質譜儀 amaZon SL 38 納米中心所級服務中心 連續光譜多...
39 可調高低溫超高粘性流變儀 測試可調高低溫超高粘性流變性能。 40 三維流場測量系統 流場性能測量。 41 光電或半導體材料性能測試 探針台 測試半導體的功能,如IV曲線、CV曲線,射頻特性擊穿電壓等。 42 廣義橢偏儀 光學常數分析;薄膜表面截面特性;組分和結構進行表征測量分析。 43 薄膜原位生長測試隧道掃描顯微鏡...
太陽能電站和現代高效照明中的非成像光學等;反映了套用光學中的前沿技術,如光學系統焦深擴展與衍射極限的突破、微納光子學和表面電漿微納光學設備中的光學系統、自適應光學等;敘述了現代物理光學儀器的光學系統原理,包括光電干涉光學系統、光電光譜儀及分光光度光學系統、偏振光電儀器光學系統及偏振光成像技術等。
3-5 用反射型橢偏儀測量折射率和薄膜厚度 3-6 晶體的電光效應及其套用 3-7 法拉第效應 附錄 測量法拉第旋轉角的光電方法 3-8 單光子計數 3-9 光學雙穩實驗 附錄 會聚偏振光的干涉 第四單元 真空技術與薄膜製備 4-0 引言 4-1 高壓強電離真空計的校準 附錄 高壓強電離真空計電路工作原理 4-2 ...
5.8 三稜鏡頂角與折射率的測量 5.9 太陽能電池伏安特性的測量 5.10 脈衝固體雷射器的調試及電光調Q實驗 5.11 線陣圖像感測器CCD驅動及輸出特性研究 5.12 偏振光研究 5.13 橢偏儀測量薄膜厚度 5.14 阿貝成像原理和空間濾波 5.15 光纖系列實驗 5.16 介質阻擋放電基本特性的研究 附表 ...