光譜型成像橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年09月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:光譜型成像橢偏儀
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2017年09月01日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
光譜型成像橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年09月01日啟用。
光譜型成像橢偏儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2017年09月01日啟用。技術指標400-1700nm測量範圍。1主要功能測量折射率。1...
紅外光譜型橢偏儀是一種用於能源科學技術領域的分析儀器,於2012年9月29日啟用。技術指標 IR-VASE型紅外光譜橢偏儀為旋轉補償器(RCE)式布置方式,主要由紅外光源、起偏器、旋轉補償器等部件組成,可測光譜範圍為1.7-30μm。在1-64...
成像橢偏技術可以實現和多種技術聯用,如布魯斯特角顯微鏡、表面等離子共振、原子力顯微鏡、石英晶體微天平、LB槽、反射光譜儀、太赫茲光譜儀以及拉曼光譜儀等等。傳統橢偏技術在光譜的每個波長至少測試兩組數據。如果套用廣義成像橢偏技術可以在...
光譜橢偏系統是一種用於力學、工程與技術科學基礎學科、生物學領域的分析儀器,於2018年3月8日啟用。技術指標 測量橢圓參數(TANψ,COSΔ) 光學常數(n:折射率,k:消光係數)分析 薄膜厚度分析。主要功能 材料/薄膜光學參數。
實驗結果表明,廣義成像橢偏儀既可以實現單像素大小照明光斑區域內光譜穆勒矩陣的準確測量與分析,也可以快速準確地重構出大面積區域內待測納米結構具有像素大小橫向解析度的三維顯微形貌。 項目所研製的廣義成像橢偏儀既具有傳統廣義橢偏儀測量...
對於~8nm超薄金膜,0.1nm的厚度變化對應共振中心波長漂移8nm;1nm厚度變化對應共振中心波長漂移72nm;在1250nm處折射率變化0.05,Delta變化16°,在此基礎上開發了兩類SPR橢偏儀:SPR成像橢偏儀和SPR光譜型橢偏儀。
■ 優點:相對於光譜型橢偏儀,雷射單波長橢偏儀比較簡單,由於不需要單色儀,四分之一玻片也可以根據波長固定,光學元件也可以針對特定波長進行設計,所以價格相對便宜,同時測量精度較高。■缺點:對多層膜分析能力不足,不如光譜型橢偏...