微焦點X射線成像系統

微焦點X射線成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2011年12月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：微焦點X射線成像系統
• 產地：德國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2011年12月9日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

最高管電圧225kV,密度解析度小於等於0.5%。

主要功能

檢測金屬、非金屬及複合材料內部缺陷，數位化成像，斷層掃描。