干涉對比是2003年公布的機械工程名詞。
中文名稱 | 干涉對比 |
英文名稱 | interference contrast |
定 義 | 干涉場中亮暗條紋的光強差異。 |
套用學科 | 機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),顯微鏡-顯微鏡一般名詞(三級學科) |
基本介紹
- 中文名:干涉對比
- 外文名:interference contrast
- 所屬學科:機械工程
- 公布年度:2003年
干涉對比是2003年公布的機械工程名詞。
中文名稱 | 干涉對比 |
英文名稱 | interference contrast |
定 義 | 干涉場中亮暗條紋的光強差異。 |
套用學科 | 機械工程(一級學科),光學儀器(二級學科),顯微鏡-顯微鏡一般名詞(三級學科) |
干涉對比 干涉對比是2003年公布的機械工程名詞。定義 干涉場中亮暗條紋的光強差異。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
干涉對比度顯微學 干涉對比度顯微學(interference contrast microscopy)是2019年發布的物理學名詞。公布時間 2019年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《物理學名詞》第三版。
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1.3.3干涉條紋對比度及其影響因素21 1.4干涉偏振成像焦平面信息解調過程分析23 1.4.1二維傅立葉變換23 1.4.2干涉偏振成像系統中信號調製25 1.4.3干涉偏振成像系統中信號濾波與解調27 參考文獻28 第2章干涉偏振成像套用瓶頸分析及...
設計並搭建了用於微球全表面形貌檢測的移相衍射干涉儀實驗裝置,並分別以低反射率的紅寶石探頭和GDP微球為檢測對象進行了實際測量。實驗結果表明:對比區域內形貌誤差PV值和RMS值分別為66.17nm和16.89nm,與Wyko掃描白光干涉儀檢測結果一致...
計算了干涉對比度的平均值,也就是考慮在所有的么正演化下的平均。(4)純量子態和混合量子態情形下的量子相對熵相干性的平均值和測度集中性。其中最代表性的結果就是計算了平均量子次熵(quantum subentropy),該結果表明高維系統中的...
光學顯微鏡有多種分類方法,按使用目鏡的數目可分為三目,雙目和單目顯微鏡;按圖像是否有立體感可分為立體視覺和非立體視覺顯微鏡;按觀察對像可分為生物和金相顯微鏡等;按光學原理可分為偏光,相襯和微分干涉對比顯微鏡等;按光源類型可...
1) 轉動上偏光片,使上、下偏光片處於正交位置,放入寶石,從上偏光鏡往下看,然後轉動寶石尋找彩虹色干涉色。2) 當干涉色出現後,在顏色最密集處加上干涉球,從上偏光鏡往下看即可觀察到干涉圖。3) 通過對比干涉圖即可判斷寶石的...
波與波之間的的相干性可以用相干度(degree of coherence)來衡量。干涉可見度(interference visibility)是波與波之間的干涉圖樣的輻照度對比,相干度可以從干涉可見度計算出來。波源 一般而言,互相不關聯的波源無法形成可觀察到的干涉圖樣...
部分相干光的干涉特性 實際的光源由於不僅有一定的限度,而且具有一定的譜寬,因而總是部分相干。復相干度是:光源相干性的量度,表示相干部分所占總強度的比例。觀察部分相干光的干涉時,其條紋的對比度與光源尺度和頻譜寬度有關。(1)...
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6.1.2 影響干涉條紋對比度的因素 6.1.3 共程干涉和非共程干涉 6.1.4 干涉條紋的分析與波面恢復 6.1.5 提高解析度的方法和干涉條紋的信號處理 6.2 雷射斐索型干涉測試技術 6.2.1 雷射斐索型平面干涉測量 6.2.2 斐索型...
8.4.1 相位恢復與干涉儀對比測量實驗 181 8.4.2 相位恢復對球面鏡面形的檢測 186 8.5 相位差異光學波前感測技術概述 189 8.6 相位差異光學波前感測技術工作原理 190 8.6.1 線性光學系統成像模型和圖像恢復原理 190 8.6.2 ...
2.1.4干涉條紋對比度35 2.1.5雙光束干涉的套用36 2.2雙頻雷射干涉測量43 2.2.1雙頻雷射干涉的原理43 2.2.2塞曼雙頻雷射44 2.2.3聲光調製雙頻雷射45 2.2.4雙頻雷射干涉儀的套用46 2.3雷射移相干涉測量50 2.3.1雷射移相...
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第2章 光的干涉及其套用 2.1 實際光波的干涉及實現方法 2.2.1 干涉條件 2.1.2 光波分離方法 2.2 楊氏干涉實驗 2.3 分波前法干涉的其他實驗裝置 2.4 干涉條紋的對比度 2.4.1 光源大小的影響 2.4.2 光源非單色性影響 ...
6.4.1干涉條紋對比度與復相干度的關係 6.4.2時間相干性測量 6.4.3空間相干性測量 6.5傅立葉變換光譜學 6.5.1傅立葉變換光譜學原理 6.5.2相干時間與有效譜寬 6.6準單色光的干涉 6.7準單色光的傳播和衍射 6.7.1互...