《工業級高可靠積體電路評價第8部分： MCU晶片》是2020年06月08日實施的一項行業標準。
基本介紹
- 中文名：工業級高可靠積體電路評價第8部分： MCU晶片
- 標準編號：T/CIE 073—2020
- 發布日期：2020年06月08日
- 實施日期：2020年08月15日
起草人,起草單位,主要內容,
起草人
趙東艷、王于波、陳燕寧、周敏、邵瑾、甄岩、譚年熊、劉浩、張東、鹿祥賓、朱松超、孫雲龍、趙揚、鐘明琛、岳志剛、符榮傑、錢國良、馬哲、王強、任軍、於健潔、王菲、高媛、邢群雁、王磊、習偉、姚浩、張佳明、黃凱、馬華超、岳虎、代建賓、黃洪傑、錢文生、李先懷、程建偉。
起草單位
北京芯可鑑科技有限公司、北京智芯微電子科技有限公司、杭州萬高科技股份有限公司、國網思極紫光（青島）微電子科技有限公司、北京銀聯金卡科技有限公司、辰芯科技有限公司、北京全路通信信號研究設計院有限公司、中國鐵道科學研究院集團有限公司通信信號研究所、中車株洲電力機車研究所有限公司、南方電網公司數字電網研究院有限公司、浙江大學、南京林洋電力科技有限公司、鉅泉光電科技（上海）股份有限公司、炬芯(珠海)科技有限公司、上海華虹宏力半導體製造有限公司、中芯國際積體電路製造有限公司、威勝集團。
主要內容
本檔案規定了面向工業套用的MCU晶片（以下簡稱晶片）的檢測要求、檢測方法和檢驗規則等。
本檔案適用於面向工業套用的MCU晶片的鑑定驗收和評價檢測活動。
