孫以材

男，1939年1月生於浙江諸暨市。1961年畢業於上海交通大學材料科學系。

基本介紹

• 中文名：孫以材
• 出生地：浙江諸暨市
• 出生日期：1939年1月
• 畢業院校：上海交通大學

人物生平

1990年赴德國技術大學邊緣技術所進修感測器及TAB引線技術。英語可口譯，德、日、俄語可筆譯。從事微電子材料及器件科研和教學。現任河北工業大學電子工程系教授博士生導師。主講固體物理、半導體物理、位錯與點缺陷理論，現代測試技術、電子顯微術及半導體感測器。在微區測試有限元理論及感測器的研究方面有所建樹。

出版著作

論文在《物理學報》上發表2篇。在《半導體學報》上發表1篇，在《Rarernetal>上二篇。在《Reviewof scientific Instr.》（美）上發表 3篇。在《Semi condnctor sci.&Tech.》（英）上發表 2篇（有關微區薄層電阻和接觸電阻的測量和行為。）在《Materials letter》（美）上發表一篇（在國際上首先指出矽中一與鐵有關的缺陷能級（EC-0．32ev）。最近在感測器輸出信號研究中發現電橋的零點輸出電漂移現象，並提出可用於零點溫漂補償。論文一篇發表在《Sensors and Actuators》（瑞士）上。在《電子學報》上發表一篇。共有14篇論文分別入選 SCI和 EI。全部論文 70餘篇。已完成《微區薄電阻測試探針技術》（入國家成果分報，已被技術監督部門認定），《壓力感測器》、《雙膜吸雜矽外延片及襯底片》、《半導體器件計算機輔助設計》、《積體電路生產中外延及擴散過程計算機模擬》、《智慧型化壓力感測器》七項科研，正在進行《集成感測器與亞微未器件非線性電阻網路理論及套用》、《過渡金屬化合物在半導體器件中的特殊套用》二項科研（其中國家自然科學基金2項）。著有《半導體測試技術》、《半導體技術中計算機仿真及輔助設計》及《晶體缺陷透射電子顯微像分析》、《壓力感測器的設計、製造及套用》（省教委基金）。譯作有《半導體材料及其製備》、《掃描電子顯微術與X射線顯微分析》。指導一屆博士生，已指導5屆碩士生。曾獲省市及省教委科技進步獎。傳略已輯入《傑出領先世界名人錄》第6輯。被邀為美國紐約科學院成員。名字已被英國物理學出版社編入世界物理學家名單。