| 中文名稱 | 場發射顯微鏡法 |
| 英文名稱 | method of field emission microscope |
| 定 義 | 用帶高電壓的針形試樣，使鏡室內的惰性氣體電離，正離子飛向螢光屏成像，用肉眼可觀察試樣尖端的原子結構像的電子能譜法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科） |
| 中文名稱 | 場發射顯微鏡法 |
| 英文名稱 | method of field emission microscope |
| 定 義 | 用帶高電壓的針形試樣，使鏡室內的惰性氣體電離，正離子飛向螢光屏成像，用肉眼可觀察試樣尖端的原子結構像的電子能譜法。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科） |
中文名稱 場發射顯微鏡法 英文名稱 method of field emission microscope 定義 用帶高電壓的針形試樣,使鏡室內的惰性氣體電離,正離子飛向螢光屏成像,用肉眼可...
場發射顯微鏡是米勒(muller)在1936年發明的,但其重要性卻直到第二次世界大戰之後才逐漸被認識,近年來,超高真空技術飛速進步,為場發射顯微鏡的發展和套用提供了條件,...
場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高解析度,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像...
場發射電子顯微術(field emission electron micros-copy; FEEM),是藉助樣品針尖的場致電子發射及其放大圖像來觀察表面結構的研究方法。樣品製成針狀,針尖曲率半徑約...
場發射(field emission)是指強電場作用下電子從陰極表面釋放出來的現象,屬於冷陰極發射。金屬內的自由電子從金屬逸出需要做一定量的功,稱為金屬的逸出功,因此通常...
場發射槍掃描電子顯微鏡適用於金屬、陶瓷、半導體、礦物、生物、高分子、複合材料和納米級一維、二維和三維材料的表面形貌進行觀察(二次電子像、背散射電子像); 可...
主要用途: Quanta 200 FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢...
場發射透射電子顯微鏡編輯 鎖定 本詞條缺少名片圖,補充相關內容使詞條更完整,還能快速升級,趕緊來編輯吧!可對金屬、礦物、半導體、陶瓷、生物、高分子、複合材料、...
掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附屬檔案者,尤其是指採用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理...
FEI Titan 80-300 球差校正電鏡;JEOL 2010F場發射透射電子顯微鏡;TECNAI G 20透射電子顯微鏡;JEOL 2011透射電子顯微鏡;JEOL 200CX透射電子顯微鏡;HITACHI S-5500 ...
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次...現在,高等級掃描電鏡採用六硼化鑭(LaB6)或場發射電子槍,使二次電子像的解析度...
表面結構化學吸附的研究中有許多新方法和新技術,例如場發射顯微鏡、場離子顯微鏡、低能電子衍射、紅外光譜、核磁共振、電子能譜化學分析、同位素交換法等。其中場發射...
主要測試設備有:透射電子顯微鏡(含能譜);場發射掃描電鏡(含能譜、電子背散射...GB 8360-87 金屬點陣常數的測定方法,X射線衍射法 X’Pert Pro X射線衍射儀有...