原位分析型X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於1970年1月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:原位分析型X射線衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:1970年1月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
原位分析型X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於1970年1月1日啟用。
原位分析型X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於1970年1月1日啟用。技術指標 X射線管發生器功率3KW;水平測角儀最小步進為1/10000度;測角儀配程式式可變狹縫;配高反射效率石墨單色器;CBO交叉光路,提供聚焦光路及高...
多功能X射線衍射儀設計精巧、結構緊湊,是一款高精度、高速測角儀。技術參數 ²多功能的X射線衍射儀 ²C機控制的原位微處理器,得到超高穩定性的X射線發生器 ²帶有可旋轉管的管罩,可以使用點焦點或焦點 ²聚焦...
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