原位分析型X射線衍射儀

原位分析型X射線衍射儀

原位分析型X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於1970年1月1日啟用。

基本介紹

  • 中文名:原位分析型X射線衍射儀
  • 產地:日本
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:1970年1月1日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

X射線管發生器功率3KW;水平測辯坑趨角儀最小步進為1/10000度;測角儀配程式式可變狹縫阿棗阿習;配高反射效率石墨單色器;CBO交叉光路,提供聚焦光路及乃妹諒高強度高解析度平行光路(挨鞏祝帶夜舟妹汽Mirror)(理學獨承微局有)。

主要功能

物相地犁分析。

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