半導體性能表征系統

半導體性能表征系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2003年09月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體性能表征系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2003年09月18日
• 所屬類別：物理性能測試儀器

技術指標

電流解析度：0.1fA電壓解析度：1V電 壓 范 圍 ：-200~+200V。

主要功能

4200-SCS型半導體特性分析系統可用於實驗室級的半導體材料與器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有fA級的電流解析度。該系統提供了先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機、Windows NT操。