《半導體納米薄膜熱電輸運性能多功能測試儀器系統研究》是依託華中科技大學，由楊君友擔任項目負責人的專項基金項目。
基本介紹
- 中文名：半導體納米薄膜熱電輸運性能多功能測試儀器系統研究
- 項目類別：專項基金項目
- 項目負責人：楊君友
- 依託單位：華中科技大學
- 負責人職稱：教授
- 申請代碼：E0207
- 研究期限：2009-01-01 至 2011-12-31
- 批准號：50827204
- 支持經費：120（萬元）
中文摘要
在3ω法基礎上，創造性發展了無需直接測量溫度變化而測量半導體納米薄膜塞貝克係數的2ω方法；綜合考慮膜厚和膜面方向的二維熱傳導，首次將2ω技術、3ω技術、2-wire法和傳統的四探針電導率測量方法相結合，形成了測量半導體納米薄膜綜合熱電性能的6-wire－3(2)ω法。在此基礎上，通過對薄膜被測樣品和參考襯底樣品的對比測試以消除襯底的影響；採用面向對象的軟體設計結合虛擬儀器技術，形成一套實時數據採集和處理的多功能測試儀器系統。該系統將可實現利用一台儀器在一塊樣品上對半導體納米薄膜膜面和膜厚兩個方向上塞貝克係數、熱導率和電導率等熱電輸運性能的測試。本項目發展的6-wire－3(2)ω新型測試方法及多功能測試系統在國際和國內都是非常有意義的探索和創新，不僅對深入研究半導體納米薄膜的電熱輸運機理和促進納米熱電學的發展具有重要理論意義，對推動高性能半導體納米材料及器件的研究和套用開發也具有重要意義。
