剪下散斑干涉技術是利用相干光照射在粗糙的物體表面,在空間所形成的散斑,實現物體表面位移和變形檢測。它具有可以全場測量,光路簡單,調節方便,對環境要求低等特點。主要討論基於邁克耳孫的剪下散斑干涉術的原理及位移導數與條紋之間的關係。通過相關實驗證明剪下散斑干涉技術在物體離面位移檢測中的準確性和有效性。
基本介紹
- 中文名:剪下散斑干涉技術
- 外文名:electronshearspeckleinterferometry,ESSPI
- 專業:光電學檢測
剪下散斑干涉技術是利用相干光照射在粗糙的物體表面,在空間所形成的散斑,實現物體表面位移和變形檢測。它具有可以全場測量,光路簡單,調節方便,對環境要求低等特點。主要討論基於邁克耳孫的剪下散斑干涉術的原理及位移導數與條紋之間的關係。通過相關實驗證明剪下散斑干涉技術在物體離面位移檢測中的準確性和有效性。
剪下散斑干涉技術是利用相干光照射在粗糙的物體表面,在空間所形成的散斑,實現物體表面位移和變形檢測。它具有可以全場測量,光路簡單,調節方便,對環境要求低等特點。主要討論基於邁克耳孫的剪下散斑干涉術的原理及位移導數與條紋之間...
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