剪下電子散斑干涉術是一種測量離面位移導數場的雷射干涉測量新技術。它除了電子散斑干涉術(ESPI,Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優點外,還有光路簡單,對測量環境要求低等特點。由於剪下電子散斑干涉是測量位移導數,因此,在自動消除剛體位移的同時對於缺陷受載的應變集中十分靈敏,因此被廣泛地套用於無損檢測(NDT, nondestructive testing)領域·
基本介紹
- 中文名:相位剪下電子散斑干涉儀
- 相機:1280×1024 USB攝像頭
- 工作距離:400~1000mm
- 光學平台:400mm×900mm