《分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣、通用規範(GB/T 18735-2002)》無相應國際標準參照,是我國首次在該領域制定的國家標準,《分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣、通用...
分析電子顯微鏡是由透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針組合而成的多功能的新型儀器。...
利用電子顯微鏡的高分辨能力、高放大倍率等特點來分析研究物體的組織形貌、結構特徵的一種近代材料物理試驗方法。電子顯微鏡主要有4種類型:①透射式電子顯微鏡;②掃描...
電子顯微鏡,簡稱電鏡,英文名Electron Microscope(簡稱EM),經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源櫃三部分組成...
目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析,因此它是當今十分有用的科學研究儀器。 掃描電子顯微鏡 發展歷史 * ...
從干擾嚴重的電鏡照片中找出真實圖像的方法之總稱。在電鏡照片中,有時因為背景干擾嚴重,只用肉眼觀察不能判斷出目的物的圖像。...
礦物電鏡分析法是運用電子顯微鏡分析礦物的形貌、結構和化學成分的方法。電子顯微鏡是利用電子光學原理製成的一種顯微鏡,當電子槍發射的高速電子流與礦物樣品相遇時,一...
《掃描電鏡與能譜儀分析技術》是2009年由華南理工大學出版出版的圖書。該書是關於掃描電子顯微鏡和x-射線能譜議的專著。...
《電子顯微分析》是2006年清華大學出版社出版的圖書。《電子顯微分析》作為學習電子顯微分析技術的入門書,主要介紹透射電子顯微術(電子衍射、質厚襯度像、衍射襯度像...
掃描電鏡方法是利用掃描電鏡對樣品的結構和性能進行分析的方法。掃描電鏡的基本部件有透鏡系統、電子槍、電子收集器、觀察和記錄影像的陰極射線管等。其基本原理是用...
掃描電鏡研究方法是隨著科學技術的發展,掃描電鏡已成為檢測固體物質的重要手段。利用電子顯微術力求觀察到更微小的物體結構,甚至單個原子;力求從試樣上得到更多的信息...
環境掃描電子顯微鏡,是指掃描電子顯微鏡的一個重要分支,環境掃描電子顯微鏡除了像普通掃描電鏡的樣品室和鏡筒內設為高真空,檢驗導電導熱或經導電處理的乾燥固體樣品以...
《掃描電鏡和能譜儀的原理與實用分析技術》是2015年電子工業出版社出版的圖書,作者是杜樹春。...
冷凍電鏡,是用於掃描電鏡的超低溫冷凍制樣及傳輸技術(Cryo-SEM),可實現直接觀察液體、半液體及對電子束敏感的樣品,如生物、高分子材料等。...
粒度分析通常都指的是對顆粒進行分析。粒度分析的方法和對象非常廣。對易於分解離開的碎屑沉積,通常採用篩析法和沉速法;對固結較緊且又不易解離的碎屑沉積,通常...
又稱現場分析。一類非人工取樣、制樣的就地分析技術與方法。主要是指採用一些現代技術對物質選定區域進行包括成分、含量和分布在內的微區分析。...
TEM在中和物理學和生物學相關的許多科學領域都是重要的分析方法,如癌症研究、...大型透射電鏡(conventional TEM)一般採用80-300kV電子束加速電壓,不同型號對應不...
《實用電鏡技術》是2008年東南大學出版社出版的圖書,作者是徐柏森。該書主要介紹了電鏡的基本概念、類型、工作原理和結構;電鏡樣品的制樣原理和常規方法;先進的實驗...
電子探針分析是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析...
電鏡三維重構技術是電子顯微術、電子衍射與計算機圖像處理相結合而形成的適於分析難以形成三維晶體的膜蛋白等大的複合體三維結構的分析技術。...
掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原理和特點而出現的一種新型分析方式。掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在...
《材料分析測試方法》是國防工業出版社出版的一本書籍,該書主要介紹材料的X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡分析和電子探針微區分析,同時簡要介紹了...
《材料分析方法》是2006年9月由天津大學出版社出版的圖書,作者是杜希文,原續波。...... 3.7 掃描電鏡的制樣方法3.8 掃描電鏡套用實例第4章 掃描探針顯微分析技術...
《現代分析測試技術》是2006年同濟大學出版社出版的圖書,作者是祁景玉。本書主要介紹了X射線分析的基本原理、探測過程和處理技術。...
操作時,應注意觀察電鏡狀態,洞察非常態現象,將故障防患於未然;出現故障時要冷靜分析,從報錯、操作狀態著手,首先排除軟體故障,再分析硬體故障,必要時及時與廠商專業...
如掃描電鏡、分析電鏡、超高壓電鏡等。結合各種電鏡樣品製備技術,可對樣品進行多方面的結構 或結構與功能關係的深入研究。顯微鏡被用來觀察微小物體的圖像。常用於生物...
