光學顯微鏡測量系統

光學顯微鏡測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2016年12月21日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學顯微鏡測量系統
• 產地：日本
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2016年12月21日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

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主要功能

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