掃描控針顯微鏡系統

掃描控針顯微鏡系統是一種用於生物學領域的分析儀器，於2010年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描控針顯微鏡系統
• 產地：美國
• 學科領域：生物學
• 啟用日期：2010年7月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

技術參數 1. 測試噪聲: <0.5?。(以零掃描方式驗證) 2. 樣品尺寸: x,y軸方向>200mm, z軸＞25mm。 3. 掃描非線性：<1.5%。 4. 設備適用範圍：測量金屬、非金屬、生物、半導體等材料。 5. x,y軸方向掃描：範圍>90μm，最高解析度優於0.3nm。 6. z軸方向掃描：範圍＞6μm，最高解析度優於0.05nm。

主要功能

1、 對金屬、半導體、陶瓷、有機物、高分子、生物體等樣的表面可在納米尺度下進行觀測形貌及力學等物體特性測試 2、套用於材料科學、納米生物、物理學、化學、電子學、半導體等領域套用。