低能電子衍射儀是電子能量小於500eV電子束是單色的、近似平行的，直徑為10-3～10-2m，通常垂直入射，利用集電極或半球形螢光屏來探測被彈性反向散射的電子形成的衍射圖的電子衍射儀。
| 中文名稱 | 低能電子衍射儀 |
| 英文名稱 | low electron energy diffractometer |
| 定 義 | 電子能量小於500eV電子束是單色的、近似平行的，直徑為10-3～10-2m，通常垂直入射，利用集電極或半球形螢光屏來探測被彈性反向散射的電子形成的衍射圖的電子衍射儀。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附屬檔案（三級學科） |
低能電子衍射儀是電子能量小於500eV電子束是單色的、近似平行的，直徑為10-3～10-2m，通常垂直入射，利用集電極或半球形螢光屏來探測被彈性反向散射的電子形成的衍射圖的電子衍射儀。套用學科機械工程（一級學科），分析儀...
低能電子衍射槍 低能電子衍射槍是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年12月18日啟用。技術指標 伸縮長度：100mm； 集成擋板； 聚焦直徑：＜1mm；靈敏度：＜1度； 3kV高壓。主要功能 確定材料表面原子結構和化學組分。
現代低能電子衍射理論分析很多就是從多重散射格林函式方法出發，對具體散射過程作各種模型假設，發展了若干行之有效的方法，如KKR法、貝基T－矩陣法、重正化向前散射法、雙層法、鏈方法及其他微擾法。低能衍射技術已推廣到研究表面缺陷、二維相變，其理論分析方法也為其他的表面分析技術所借鑑。低能電子衍射儀常與多種...
電子的加速電壓一般為數萬伏至十萬伏左右，稱高能電子衍射。為了研究表面結構，電子加速電壓也可低達數千甚至數十伏，這種裝置稱低能電子衍射裝置。模式 電子衍射可用於研究厚度小於0.2微米的薄膜結構，或大塊試樣的表面結構。前一種情況稱透射電子衍射，後一種稱反射電子衍射。作反射電子衍射時，電子束與試樣表面的...
低能電子衍射法是2016年公布的化學名詞。 定義 超高真空條件下，利用能量為40~500eV的低能電子與有序排列的固體表面原子發生彈性散射，通過測量衍射斑點分布並經空間變換得到表面原子相對於基底的原格結構；通過測量衍射束強度，並經散射動力學計算以確定表面原子的確切位置的分析方法。 出處 《化學名詞》。
電子衍射屏，給出可觀察的衍射圖像[低能電子衍射儀簡圖]。第一柵接地，使衍射電子自由飛過樣品和柵之間的空間；第二柵加幾十伏負電壓，可濾去非彈性散射電子。螢光屏施加千伏高壓，使電子有足夠的能量激發螢光物質。由於物質對電子的散射比對X射線的散射強很多，使低能電子具有很高的表面靈敏度。雖然在1927年C.J....
像差矯正低能電子/光發射電子顯微鏡系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年1月12日啟用。技術指標 常規LEEM空間解析度： 6 nm；常規PEEM空間解析度： 8 nm @汞燈光源；AC-LEEM空間解析度： 3 nm；AC-PEEM空間解析度： 4 nm @汞燈光源；能量解析度： 0.15 eV； LEEM成像視野：0.75-100μm；PEEM成像...
電子衍射的物理基礎、衍射成像、襯度理論、高分辨成像、複雜電子衍射花樣、原位透射電鏡顯微分析技術及透射電子顯微鏡、掃描電鏡、掃描透射電鏡、電子探針、背散射電子衍射儀的結構原理與套用；介紹了用於表面分析的俄歇電子能譜、X光電子能譜、掃描隧道顯微鏡、掃描透射電子顯微鏡、低能電子衍射、反射高能電子衍射及電子能量...
戴維森和GP湯姆孫由於對電子衍射的實驗研究，證明了德布羅意的物質波理論，獲得1937年的諾貝爾物理獎。隨著科學技術的發展，現在可將電子衍射的方法分為兩大類，即高能電子衍射和低能電子衍射。高能電子衍射時，如果所用的樣品是單晶薄片，則可獲得點狀分布的衍射圖象，這便於研究晶體的對稱性、晶胞大小和形狀以及晶體結構...
電子衍射譜儀 電子衍射譜儀是2003年公布的機械工程 名詞。定義 利用電子衍射圖譜進行晶體結構分析的儀器。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
通過對現有的超高真空室中的低能電子衍射儀和光電子能譜儀的改造，為研究有機半導體分子在無機表面上的有序結構和電子態提供了完整的實驗條件。通過高性能電腦的組合，改進了模擬研究的條件，運行基於第一性原理的模擬程式，提高對有機小分子在無機表面上電子態和結構進行理論計算和理論模擬的能力，為解釋實驗結果、...
近常壓光電子能譜實驗站是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年10月31日啟用。技術指標 光斑尺寸177μm*23μm；能量範圍40-2000eV；樣品溫度70-2000K；氣體固體界面原位測量氣壓1E-9mBar-20mBar。主要功能 最高壓力可達到20mbar。可實現Ar離子刻蝕，低能電子衍射表征，同時配備電阻絲加熱，電子束加熱和雷射...
低能電子衍射技術（LEED）照射準直電子束於晶體物質，然後根據觀測到的衍射圖案，來推斷物質結構。這技術所使用的電子能量通常在20～200eV之間。反射高能電子衍射（RHEED）技術以低角度照射準直電子束於晶體物質，然後蒐集反射圖案，從而推斷晶體表面的資料。這技術所使用的電子的能量在8～20keV之間，入射角度為1～4°...
現代可用電子衍射理論分析很多就是從多重散射格林函式方法出發，對具體散射過程作各種模型假設，發展了若干行之有效的方法，如KKR法、貝基T－矩陣法、重正化向前散射法、雙層法、鏈方法及其他微擾法。低能衍射技術已推廣到研究表面缺陷、二維相變，其理論分析方法也為其他的表面分析技術所借鑑。可用電子衍射儀常與多種...
用低能電子衍射儀分析表面時，如果晶體表面無缺陷、無沾污，則在螢光屏上可觀察到明亮清晰的斑點；但如果表面原子排列不佳，則衍射束斑變寬變暗，在點與點之間還存在瀰漫的亮區，在表面無序的情況下衍射消失。對於衍射斑的強度I,可直接用法拉第圓筒測定電流或用亮度計測出螢光屏上的斑點亮度。根據I～EP曲線可判斷...
5．4．2低能電子衍射儀的結構與花樣特徵/157 5．4．3LEED的套用舉例/157 本章小結/159 思考題/161 第6章透射電子顯微鏡 6．1工作原理/163 6．2解析度/164 6．2．1光學顯微鏡的解析度/164 6．2．2透射電子顯微鏡的解析度/165 6．3電磁透鏡/167 6．3．1靜電透鏡/167 6．3．2電磁透鏡/167 6．4電磁...
晶體特徵標定系統 晶體特徵標定系統是一種用於物理學領域的科學儀器，於2016年12月31日啟用。技術指標 真空5x10^-10 mbar以上,傳樣桿100mm。主要功能 利用LEED（低能電子衍射）在位測量生長中薄膜的結構特性。
低能電子衍射只反映表面幾層原子的分布，也就是表面的二維晶體結構。低能電子衍射與俄歇電子譜結合在一起是研究晶體表面結構和成分的有力工具。場離子顯微鏡(fieldion micro-scope，簡寫為FIM) 是結構簡單而放大率可達幾百萬倍的顯微鏡,其原理是利用施加到試樣上的高壓,在試樣尖端處（曲率半徑為幾百埃）產生強電場使...
分子束外延及低溫掃描隧道顯微系統是一種用於物理學領域的計量儀器，於2008年12月18日啟用。技術指標 三個電子束蒸發源（可擴充至8個），低溫掃描隧道顯微系統最低溫度5K、磁場0.15T，QPlus的原子力顯微鏡，低溫磁光系統最低溫度20K、磁場1.4T，俄歇電子能譜儀，低能電子衍射儀，背景真空2x10-11 mBar。主要功能 ...
表面弛豫，表面再構，表面缺陷，表面形貌；可用技術：LEED（Low Energy ElectronDiffraction，低能電子衍射）、RHEED（Reflection High - Energy Electron Diffrac-tion，反射式高能電子衍射）、EXAFS（Extended X- ray Absorption Fine Structure，擴展X射線吸收精細結構譜）、SPM（Scanning Probe Microscope，掃描探針顯微鏡）...
清潔表面樣品製備系統 清潔表面樣品製備系統是一種用於物理學、教育學、材料科學、能源科學技術領域的儀器，於2018年11月15日啟用。技術指標 LEED/Auger低能電子衍射儀4-柵級電子光學設計 離子濺射儀最大離子動能3 keV 磁力樣品傳遞桿700 mm長，可360�旋轉。主要功能 製備及表征清潔表面。
低能電子衍射（LEED）將能量在10～500電子伏範圍內的低能電子束入射到待研究表面，這種低能電子的德布羅意波長（見波粒二象性）與表面原子的間距有相似數量級，表面的點陣結構對入射電子束能產生衍射作用。由於入射電子能量低，只有表面層內的原子才對入射電子起散射作用，而且散射截面很大。用螢光屏觀察背向衍射束斑的...
表面分析的方法有很多種，共同特徵是用一束“粒子”（電子、離子、光子等）或波場（電場、磁場、聲波等）作為探針，檢測和分析樣品表面在探針作用下發射或散射的粒子或波的特性，由此得到表面的有關信息。分析儀器 常用的表面分析儀器有掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、低能電子衍射儀、反射式高能電子衍射...
宏微觀應力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構分析等方面的套用；介紹了電子衍射的物理基礎、透射電子顯微鏡的結構與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高分辨透射電子顯微技術、掃描電子顯微鏡的結構與原理、電子探針及其套用；介紹了俄歇電子能譜儀（AES）、X射線光電子能譜儀（XPS）、掃描隧道電鏡（STM）、低能電子衍射（...
1.“低能電子衍射儀的研究”獲電子部科技進步二等獎（1985），2. “軟X射線多層膜界面離子束改性的研究”遼寧省教委科技進步二等獎（1997）；3.被國家教委、國務院學位委員會評為“有突出貢獻的中國博士學位獲得者”（1991）；4.鐵道部有突出貢獻的中青年專家，享受國務院政府特殊津貼（1993）；5.全國三八紅旗手...
要定量地研究表面，必須獲得表面所有原子的坐標信息，為此早期採用的實驗方法是低能電子衍射(LEED)。把能量在5～500eV範圍的電子沿近於正入射的方向射向晶體表面，通過在螢光屏上觀察到的衍射點可以獲得有關表面的單位格線的信息。對若干衍射斑點記錄斑點強度隨電子能量變化的曲線（I-V線）,並對實驗結果用根據一定的...
第二節電子背散射衍射技術相關 晶體學取向基礎252 第三節電子背散射衍射技術硬體系統262 第四節電子背散射衍射技術原理及 花樣標定264 第五節電子背散射衍射技術成像 及分析268 第六節電子背散射衍射技術數據處理272 習題277 第十四章其他顯微分析方法278 第一節離子探針顯微分析278 第二節低能電子衍射分析280 第三...
內容包括:X射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及X射線衍射儀、物相分析、巨觀應力測定、多晶體織構的測定、透射電鏡結構與原理、電子衍射、衍襯成像、衍射動力學、高分辨透射電子顯微術、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時,簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、場離子顯微鏡與原子探針掃描隧道...
10.4 掃描電鏡的電子圖像及襯度 10.5 掃描電鏡在材料研究中的套用 小結 關鍵術語 習題 第11章 電子探針 11.1 電子探針的結構 11.2 波譜儀 11.3 能譜儀 11.4 電子探針分析方法和套用 小結 關鍵術語 習題 第12章 其他近代材料測試方法 12.1 離子探針 12.2 低能電子衍射 12.3 俄歇電子能譜儀 12.4 ...
內容包括：x射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及x射線衍射儀、物相分析、巨觀應力測定、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時，簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及x射線光電子能譜儀等顯微分析方法，並附有實驗...
