低能電子衍射槍是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年12月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:低能電子衍射槍
- 產地:德國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2014年12月18日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
低能電子衍射槍是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年12月18日啟用。
低能電子衍射槍是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年12月18日啟用。技術指標伸縮長度:100mm; 集成擋板; 聚焦直徑:<1mm;靈敏度:<1度; 3kV高壓。1主要功能確定材料表面原子結構和化學組分。1...
電子的加速電壓一般為數萬伏至十萬伏左右,稱高能電子衍射。為了研究表面結構,電子加速電壓也可低達數千甚至數十伏,這種裝置稱低能電子衍射裝置。模式 電子衍射可用於研究厚度小於0.2微米的薄膜結構,或大塊試樣的表面結構。前一種情況稱透射電子衍射,後一種稱反射電子衍射。作反射電子衍射時,電子束與試樣表面的...
雖然早在 1925 年法國人俄歇就已在威爾遜雲室內首次發現了俄歇電子的徑跡,1953 年蘭德從二次電子能量分布曲線中第一次辨認出俄歇電子譜線, 但是由於俄歇電子譜線強度低,它常常被淹沒在非彈性散射電子的背景中,所以檢測它比較困難。 六十年代末期, 由於採用了電子能量分布函式的微分法和使用低能電子衍射的 電子光學...
低能電子衍射(LEED) 這是套用最廣的觀察單晶表面結構的方法。利用一定(可變)能量值EP的電子束轟擊晶體表面,觀察彈性散射電子(占出射電子總數的1%~5%)的衍射花樣,而把非彈性碰撞後損失能量的電子用阻擋柵濾去。電子波的波長為 (2)式中EP的單位為電子伏。如EP=10~500電子伏,則λ=3.9~0.64 埃,約等於...
利用光電子發射的衍射現象也可研究表面結構。如將50~200eV 左右的低能電子束入射到固體表面,測量反射電子的能量損失如圖7所示,通過這種能量損失譜可得到體等離激元、表面等離激元等信息。能量損失也可用於激髮帶間的躍遷或芯態能級間的躍遷。 利用電子的隧道過程也可探測表面電子態。當離子接近固體表面時,表面價態...
低能電子衍射只反映表面幾層原子的分布,也就是表面的二維晶體結構。低能電子衍射與俄歇電子譜結合在一起是研究晶體表面結構和成分的有力工具。場離子顯微鏡(fieldion micro-scope,簡寫為FIM) 是結構簡單而放大率可達幾百萬倍的顯微鏡,其原理是利用施加到試樣上的高壓,在試樣尖端處(曲率半徑為幾百埃)產生強電場使...
表面分析方法有數十種,常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析,其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術,以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析 離子探針分析,又稱離子探針顯微分析。它是利用電子光學方法將某些惰性氣體或氧的離子加速並聚焦成細小的...
一、衍射參數 二、熱振動與Debye-Waller因子 三、低能電子衍射(LEED)四、掠入射角X射線衍射(GIXS)五、透射電子顯微鏡 第四節 原子化學鍵合表征 一、能量損失譜(EELS)二、擴展X射線 三、振動光譜:紅外吸收光譜和拉曼光譜 第五節 薄膜應力表征 參考文獻 第六章 薄膜材料 第一節 超硬薄膜材料 一、超硬材料 二...
電子衍射分析法 利用電子射束照射晶體試樣產生衍射現象,通過探測衍射譜的分布位置和強度,對試樣的原子排列、晶相、微觀缺陷等進行分析的技術,分為低能電子衍射和高能電子衍射。前者常用於試樣表層幾十埃厚度範圍的結構分析,後者常用於多晶、單晶薄膜的結構分析和粉末試樣的物相分析。與電鏡結合的選區電子衍射,可分析...
同時在PEEM電子光學系統的研製中第一次引入鏡面透鏡的方式完成像差矯正功用,套用半球能量分析器中止光電子的能量選擇,採用場發射電子槍用於低能電子顯微成像和微區電子衍射,別離深紫外雷射技術,使得該系統能夠完成在高空間分辨條件下的表面化學和表面結構的動態原位研討,是一套世界搶先並且功用共同的表面研討平台。該...