低溫原子力顯微鏡系統

低溫原子力顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2016年12月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：低溫原子力顯微鏡系統
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2016年12月12日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡

技術指標

樣品尺寸：直徑≤15mm diameter; 厚度約5mm ；解析度：STM解析度：XY方向≤0.1 nm, Z方向≤0.1nm ；AFM 解析度： XY方向≤0.5 nm, Z方向≤1nm ；噪音指標：防震台隔離機械震動；隔音系統控制聲音噪音，垂直方向RMS 噪音≤0.3？，系統噪音0.5～1pA ；掃描範圍： 10×10×2.5μm（±10nm）；相位同步檢測靈敏度：0.01度（1KHz）。

主要功能

C-AFM、AFM、MFM和PFM，以滿足不同領域的研究需要。