低溫原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2019年9月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:低溫原子力顯微鏡
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2019年9月18日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 原子力顯微鏡
低溫原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2019年9月18日啟用。
低溫原子力顯微鏡是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器,於2019年9月18日啟用。技術指標可在5K(液氦)77 K(液氮)下工作;對樣品表面掃描成像可以達到原子分辨;STS解析度10 meV。1主要功能表面成像與表面...
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此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下可以利用探針尖端精確操縱單個分子或原子,因此它不僅是重要的微納尺度測量工具,又是頗具潛力的微納加工工具。原子力顯微鏡 原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM),也稱掃描力顯微鏡(scanning force...