《高性能非接觸原子力顯微鏡系統設計與套用》是依託南開大學，由方勇純擔任項目負責人的面上項目。
基本介紹
- 中文名：高性能非接觸原子力顯微鏡系統設計與套用
- 項目類別：面上項目
- 項目負責人：方勇純
- 依託單位：南開大學
- 負責人職稱：教授
- 申請代碼：F0302
- 研究期限：2006-01-01 至 2008-12-31
- 批准號：60574027
- 支持經費：23（萬元）
中文摘要
原子力顯微鏡為微納米技術的發展提供了納米/原子級的測量/加工工具，因此它的研究進展在整個微納米領域中起著舉足輕重的作用，並逐漸發展成為近年來微納米研究領域的核心問題之一，其突破將極有可能為微納米領域的研究帶來新的發展契機。非接觸原子力顯微鏡具有能實現原子範圍操作，對樣品和探針針尖損害小等優點，因而具有極其廣泛的套用前景。本項目旨在設計與實現高性能的非接觸原子力顯微鏡系統，並將其作為操作工具，開展超高密度存儲器等納米領域研究。具體而言，我們的研究將主要集中於以下幾個方面：非接觸原子力顯微鏡系統建模；樣品與微懸臂尖端之間距離的觀測器構造；非接觸原子力顯微鏡系統的集成與實現；基於非接觸原子力顯微鏡的超高密度存儲技術探索。力爭通過本項目的研究，提高我國在非接觸原子力顯微鏡方面的研究與套用水平，進一步提升其測量性能，並在基於非接觸原子力顯微鏡的超高密度存儲器方面進行探索，促進我國微納米技術的發展。
