三維重構成像X射線顯微鏡是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器，於2013年11月28日啟用。
基本介紹
- 中文名：三維重構成像X射線顯微鏡
- 產地：美國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2013年11月28日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
150KV 最高解析度可1微米。
主要功能
無損的三維重構x射線。
三維重構成像X射線顯微鏡
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