XRF鍍層測厚儀俗稱X射線螢光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用於精密測量金屬電鍍層的厚度。
XRF鍍層測厚儀：
俗稱X射線螢光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等；
功能：精密測量金屬電鍍層的厚度；
套用範圍：測量鍍層,塗層,薄膜,液體的厚度或組成,測量範圍從12(Mg)到92(U);
5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;
元素光譜定性分析;
測試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
套用群體主要集中在：電路板、端子連線器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機構以及研究所和高等院校等；
原理：X射線螢光
什麼是X射線?X射線存在於電磁波譜中的一個特定區域,它由原子內部電子躍遷產生,其波長範圍在0.1-100Å;能量大於100電子伏特.
什麼是X射線螢光?X射線螢光 是一個原子或分子吸收了特定能量的光子後釋放出較低能量的光子的過程。
射線管的對比：
微焦X射線管在更小的束斑下，激發更高的螢光X射線強度， 更高計數率，改善分析精度，到達更小的激發X射線束斑.
