X射線面探系統

X射線面探系統是一種用於化學工程、化學、材料科學領域的分析儀器，於2017年5月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線面探系統
• 產地：日本
• 學科領域：化學工程、化學、材料科學
• 啟用日期：2017年5月12日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

採用細焦斑燈絲，IP接收信號，Mo靶18KW旋轉靶。

主要功能

用於小分子化學物質結構的測定。