X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。
基本介紹
- 中文名:X射線吸收譜
- 外文名:X-ray absorption spectroscopy
- 所屬學科:冶金學
- 公布時間:2019年
X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。
X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。定義由吸收原子的外層價電子的散射造成的X射線譜。主要用來研究原子外層的電子結構及近鄰環境的...
X光吸收光譜(X-ray absorption spectroscopy,縮寫:XAS)是廣泛套用於取得氣態、分子及凝體(例如,固體)中,目標原子之區域(原子尺度)結構資訊及電子狀態的一種技術。光源 X光吸收光譜可藉由調變X光光子能量,於目標原子束縛電子之激發能量範圍內進行掃描而得。通常需使用同步輻射設施以提供高強度並可調變波長之X光...
X射線吸收譜,X射線通過試樣時,其強度隨線吸收係數μ和試樣厚度t按指數衰減I-I0e-μt。質量吸收係數μm=μ/ρ=σm+τm這裡ρ為試樣的密度;σm是散射吸收係數,是表示相干(湯姆孫)散射和非相干(康普頓)散射過程的結果;τm為光電吸收係數,它是由於內光電效應的結果。在0.5~500┱波長範圍,τm起主要作用...
X射線吸收光譜法 X射線吸收光譜法(X-ray absorption spectrometry)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞,出自《計量學名詞》第一版。定義 每一元素對一定波長的X射線都有特徵吸收,根據X射線透過試樣前後強度的變化來進行定性和定量分析的方法。出處 《計量學名詞》第一版 ...
X射線吸收譜法 X射線吸收譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用X射線吸收係數隨能量的變化關係,對物質進行定量或定性分析的方法。出處 《材料科學技術名詞》。
擴展X射線吸收精細結構譜是物理學中研究射線的圖譜,具有一定的物理學公式進行驗算。基本信息 物質(除單原子氣體外)的 X射線吸收限的高能方向, 對應光電子能量Ek約在30~1000電子伏範圍內,X射線吸收係數的振盪結構稱為擴展X射線吸收精細結構譜。其典型例子如圖1所示。圖中光電子能量為0處相當於K吸收限位置。
X射線吸收分析是利用物質吸收X射線進行分析的方法。X射線吸收分析一般適用於測定在組成較恆定的低原子序數基本溶液中的高原子序數組分。例如汽油或其它烴類溶液中的磷、硫、氯、四乙基鉛或重金屬添加劑。分類 吸收分析法主要被用來作定量分析。根據分析時所用的是多色或單色光束,或是否套用到吸收限的特性,定量分析法...
進一步的分析表明,吸收曲線在吸收限短波側附近的變化並不是單調平滑的,而是表現出不同程度的振盪現象,稱為X 射線吸收限的精細結構XAFS(X射線吸收近限譜XANES和擴展X射線吸收譜EXAFS)。它是由吸收原子之周鄰原子對出射光電子的背散射引起的,是該原子配位環境的一種反映。X射線吸收譜分析法測量透過樣品的X射線...
美國EasyXAFS公司推出的台式X射線吸收精細結構譜儀,採用單色器設計,無需同步輻射光源,在常規實驗室內即可實現X射線吸收精細結構測量和分析。概念 台式X射線吸收精細結構譜儀採用X射線單色器設計,無需同步輻射光源(同步輻射裝置龐大、價格昂貴),在常規實驗室環境中即可實現 X 射線吸收精細結構測量和分析。提供 XAFS ...
當入射射線的光子能量等於或大於被照射物質內某殼層上電子的電離能時,大量的光子會被吸收,使得大量的內殼層電子被電離成光電子,造成原子吸收係數的突變。因為不同元素不同殼層上的電子具有不同的電離能,使得這些吸收突躍的位置相當於元素的“指紋”信息,也因此X射線吸收譜具有元素選擇性。
在X射線吸收譜中,吸收邊之上60eV以內的低能區的譜出現強的吸收特性,稱之為近邊吸收結構(XANES)。它是由於激發光電子經受周圍原子的多重散射造成的。它不僅反映吸收原子周圍環境中原子幾何配置,而且反映凝聚態物質費米能級附近低能位的電子態的結構。因此成為研究凝聚態物質的有用工具。1913 年英國物理學家H.莫塞萊...
不同元素具有波長不同的特徵X射線譜,而各譜線的螢光強度又與元素的濃度呈一定關係,測定待測元素特徵X射線譜線的波長和強度就可以進行定性和定量分析。本法具有譜線簡單、分析速度快、測量元素多、能進行多元素同時分析等優點,是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛套用的三大分析手段之一(其他兩方法為中子活化分析和質子...
吸收係數隨X光子能量增加而下降,這是由於X光子能量越高,其穿透性越強。仔細觀察下圖會發現,圖中有幾處突變,它們是吸收線,在吸收限的兩側吸收係數十分懸殊。吸收限是X光子分別使K層、 L層、M層一個電子電離發生共振吸收的能量。 突變即吸收限的出現,證明原子內部電子的殼層結構。X射線吸收在醫學上的套用 為...
新型的強大的同步輻射源在分析上的套用研究也已開始,在特徵X射線外延吸收譜精細結構研究中更引起人們的高度重視。在色散元件方面,隨著一些新型晶體,尤其是輕、重元素交替澱積的碳化物多層膜質晶體的發展,在提高衍射效率方面對輕元素分析有可能獲得較大的效益。對於超長波X射線色散用的各種分析晶體和光柵,在提高解析度...
只要測出一系列X射線螢光譜線的波長,即能確定元素的種類;測得譜線強度並與標準樣品比較,即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜(AES)和原子吸收光譜(AAS)之間的光譜分析技術。基本原理 它的基本原理是基態原子(一般蒸汽狀態)吸收合適的特定頻率的輻射而被激發至...
採用能量色散技術,一個擴展X射線吸收譜可在幾個微秒內完成,能用於跟蹤物質的製備和反應過程,直接給出動力學信息。EXAFS方法的主要特點 第一、由於EXAFS是近鄰原子的作用,與研究對象的原子是否周期性排列無關,因此既可研究晶態物質,又可研究非晶態物質。液態和非單原子氣體也可進行研究。第二、各種元素的吸收邊能量...
在寶石領域中使用較多的觀測寶石的X射線發射光譜是把寶石放在X射線管的陽極上,用高速電子流轟擊樣品,使其發出X射線譜,然後記錄其譜線並與已知譜線對比來確定樣品的品種;X射線的吸收光譜是用X射線來照射樣品,然後測定透過該寶石後的X射線譜,再根據譜線來確定樣品的品種。由於後一種方法相對易行,所以使用較廣。X...
X射線分析法 X射線分析法是2003年公布的機械工程名詞。定義 測量試樣在各種條件下所發射的特徵X射線,或者是測定試樣的X射線衍射圖形,包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建築材料,以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管(EURoHS)和考古學等領域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。物理原理 當材料...
X射線吸收近邊結構是2018年公布的生物物理學名詞。定義 當X射線的能量等於被照射樣品某內層電子的電離能時,釋放的光電子受到周圍原子的多重散射造成X射線吸收譜中吸收邊之上5~150 eV低能區出現的強吸收峰。不僅反映吸收原子周圍環境中原子幾何配置,而且反映凝聚態物質費米能級附近低能位電子態的結構。由於其對元素的...
檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建築材料,以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管(EURoHS)和考古學等領域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠附設的品管實驗室之分析人力投入。X射線螢光的物理...
XAFS(全稱是X-ray Absorption Fine Structure),即X射線吸收精細結構譜,是用於描繪局部結構最強有力的工具之一。在此技術中,我們將X射線能量調整至與所研究的元素中內電子層一致,再用於探測樣品,然後監測吸收的X射線數量與其能量的函式關係。如果採用足夠的精確度,光譜會展現出小的振盪,那是局部環境對目標元素...
XANES(X-ray absorption near edge structure)是一種X射線吸收近邊結構(XANES)又稱近邊X射線吸收精細結構(NEXAFS),是吸收光譜的一種射線結構。解釋 在X射線吸收譜中,閾值之上60eV以內的低能區的譜出現強的吸收特性,稱之為近邊吸收結構(XANES)。它是由於激發光電子經受周圍原子的多重散射造成的。它不僅反映...
2. 目前OLED設備壽命太短,受限於通過水解反應分解AlQ3。本項目使用分子動力學模擬這個反應和確定衰變產物;3. 研究赤鐵礦,計算X射線吸收光譜,確定最有利的氧空位的配置,驗證它們在光電化學電池設備中的機理;4. 研究矽納米柱,計算X射線吸收光譜,研究異質結界面處重組機制,以減少界面重組並提高矽電池...