《III-V族半導體表面和界面的氧化及鈍化研究》是依託南開大學,由王衛超擔任項目負責人的青年科學基金項目。
基本介紹
- 中文名:III-V族半導體表面和界面的氧化及鈍化研究
- 項目類別:青年科學基金項目
- 項目負責人:王衛超
- 依託單位:南開大學
《III-V族半導體表面和界面的氧化及鈍化研究》是依託南開大學,由王衛超擔任項目負責人的青年科學基金項目。
《III-V族半導體表面和界面的氧化及鈍化研究》是依託南開大學,由王衛超擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要III-V族半導體材料具有比矽材料高5-10倍的電子遷移率,在高速集成電子器件領域有重要的套用前景,III...
《高κ柵介質/III-V族半導體界面元素擴散的表征及鈍化研究》是依託南開大學,由董紅擔任項目負責人的青年科學基金項目。中文摘要 高電子遷移率的III-V族半導體有望取代矽,作為下一代金屬氧化物半導體場效應電晶體(MOSFET)的溝道材料套用...
主要包括:(1)III-V族半導體表面鈍化及ALD製備高K柵介質後的界面微結構和組分的原位調控;(2)生長低界面缺陷的高K柵介質的工藝最佳化;(3)快速熱退火條件對界面組成、結構等的影響。結合界面層調控與器件特性之間的關係,分析漏電機制,...
本課題主要研究了鹼金屬在III-V族半導體表面的吸附及界面反應,重點是:界面能帶彎曲及費米能級的釘扎;界面處元素芯能級的化學位移及原子鍵合狀態;以及鹼金屬對半導體氧化反應和氮化反應的催化作用。實驗結果表明;在氧化過程中,鹼金屬...
因此,本項目開展有關InGaAs MOS器件的研究具有重要的科學意義和套用前景。 本項目主要研究(In)GaAs表面鈍化技術、界面鈍化層技術、堆疊高k柵介質的結構設計和製備工藝以及界面特性分析、器件電特性的測量與刻劃、堆疊高k柵介質InGaAs MOSFET...
在此基礎上,提出採用含N表面鈍化方法及微波熱退火技術來抑制界面元素擴散,有效調控界面特性,掌握提升鉿基高k介質/InGaAs金屬氧化物半導體(MOS)器件可靠性的關鍵技術,為研製出高性能的III-V族MOSFETs提供理論依據和解決方案。結題摘要 本...
希望通過此項研究對配體分子與納米顆粒表面的作用機理給予直接的實驗表征,推動納米材料的可控合成理論和表/界面性質研究的發展。結題摘要 半導體納米晶表面有機配體在納米材料的控制製備及其性能開發方面具有重要作用。本項目研究中,我們以...
III-nitride heterojunction devices [2] 黃森等,“GaN基高電子遷移率電晶體的低溫無金歐姆接觸的製作方法”科研項目 作為項目負責人承擔國家自然科學基金面上項目“基於極化電荷補償界面態鈍化理論的GaN基功率開關可靠性及增強技術研究”
何剛課題組通過金屬有機化合物化學氣相沉積和原子層沉積的方法,生成具有自清潔行為的目標氧化物,解決了學界一直以來採用化學方法難以清除表面氧化物的難題。這種沉積方法有效控制了高介電常數柵極材料和III-V族半導體基底疊層柵的多界面態...