HCL-3S粒子計數器

:雷射塵埃粒子計數器主要套用領域為———對潔淨空間中單位體積內肉眼不可見的極其微小的粒子進行檢測，並加以統計和計算，以判斷該潔淨空間是否符合相關的潔淨空間等級標準。塵埃粒子計數器已被廣泛套用在質量監督所等權威檢驗機構、超大規模積體電路超淨車間（室）, 電子行業、醫療衛生、食品加工、光學或精密機械等生產企業以及航空航天等科研部門檢測淨化環境、無塵室潔淨等級。雷射塵埃粒子計數器已經被越來越多的行業套用。

基本介紹

• 中文名：HCL-3S粒子計數器
• 記憶體容量 ：9000組
• 接口 ：USB
• 最大通訊速率： 12MBPS

產品簡介

雷射塵埃粒子計數器其基本原理是通過機身內雷射感測器對粒子散射後被光敏元件接收並產生脈衝信號，信號被輸出並放大，並進行數字處理，再與標準信號進行比較，最後結果用參數表示出來。

LCJ-3S雷射塵埃粒子計數器具有以下特點:

該塵埃粒子計數器可同時對三個通道粒徑的採樣分析列印

用戶可在0.3 ～ 20.0μm之間自定義待測粒徑

採樣模式: 累積/差分/濃度/平均

存儲量多達9999組測量數據的雷射塵埃粒子計數器

具有自動定時採樣和超限報警功能的塵埃粒子計數器

該粒子計數器擁有USB 數據下載和軟體升級

該粒子計數器外置溫濕度感測器以保證測試精度

支持中文界面顯示

主 要 性 能

測試粒子粒徑 0.3, 0.5, 20.0μm (用戶可在0.3 ～ 20.0μm之間自定義待測粒徑)

光源 雷射二極體(壽命大於100000小時)

一致性損失 當每立方英尺2,000,000個粒子時小於5%

流量 2.83 升 /分鐘（0.1cfm）

計數效率 100±10%@0.5μm

檢定標準 JIS-B-9921(1997), ASTM-F649-01, ASTM-F328-98 (NIST可溯源)

採樣時間 用戶自設定 (1秒～59分59秒)

採樣頻率 1到99次或連續

報警級別 1 ～ 100,000級(FED209E 標準)或2 ～ 9級 (ISO14464-1標準)

測試方式

單一/重複/連續/定時/平均

錯誤指示 超過最大計數，雷射功率衰減，超過校準流量（>±5%），電池電量不足

電源 可充電Ni-MH電池（6V/2500mAH）或AC適配器（輸入100～240V）

電池工作時間 連續測試時間大於6小時

外形尺寸 93（W）× 46（D）× 180（H）mm

重量 小於950克（含電池）

環境條件 工作環境5～45℃, < 90%RH

儲藏環境 -20～60℃, < 90%RH

標準附屬檔案 AC適配器，清零過濾器，等動力採樣頭，三角架, 攜帶型保護箱, 套用軟體安裝光碟, 使用手冊

選配件微型印表機，列印電纜，外置溫濕度感測器