《DEM插值算法適應性理論與方法(修訂版)》是電子工業出版社於2021年出版的書籍,作者是張錦明。
基本介紹
- 中文名:DEM插值算法適應性理論與方法(修訂版)
- 作者:張錦明
- 出版社:電子工業出版社
- 出版時間:2021年11月
- 頁數:344 頁
- 定價:149 元
- 開本:16 開
- ISBN:9787121422737
《DEM插值算法適應性理論與方法(修訂版)》是電子工業出版社於2021年出版的書籍,作者是張錦明。
《DEM插值算法適應性理論與方法(修訂版)》是電子工業出版社於2021年出版的書籍,作者是張錦明。內容簡介DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數據精度、插值算法、地貌類型、採樣數據分布特徵和尺度都是影響DE...
《DEM插值算法適應性理論與方法》是2020年5月電子工業出版社出版的圖書,作者是張錦明。內容簡介 DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數據精度、插值算法、地貌類型、採樣數據分布特徵和尺度是影響DEM精度的主要因素之一。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、採樣數據分布特徵和尺度等因素通過插值算法影響DEM...
《DEM構建的多面函式抗差插值算法研究》是依託山東科技大學,由陳傳法擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 DEM是對地球表面地形地貌離散表達,其精度取決於採樣數據質量等因素。數據採集中,受儀器噪聲等影響,測量數據中不可避免含有粗差,進而嚴重影響DEM構建精度。抗差估計是在粗差不可避免前提下,選擇特定估計方法,...
DEM誤差的空間自相關性已經被證明存在並顯著影響DEM及數字地形分析的不確定性。針對目前DEM誤差的空間自相關性及其套用研究中重隨機模擬而輕理論建模,重單一誤差描述而輕兩類誤差的統一描述的研究現狀,本研究擬從DEM構建方式之一的DEM插值入手,分析DEM插值基函式和核函式的空間自相關性質,建立不同插值算法的空間自...
《DEM插值算法適應性理論與方法(修訂版)》是電子工業出版社於2021年出版的書籍,作者是張錦明。內容簡介 DEM精度研究是DEM研究體系的重要組成部分,原始數據精度、插值算法、地貌類型、採樣數據分布特徵和尺度都是影響DEM精度的主要因素。插值算法作為其中的直接因素,地貌類型、採樣數據分布特徵和尺度等因素通過插值算法...
根據規則格網DEM,採用一定的插值算法生成數字等高線。具體過程是首先在DEM中按規定的等高線間隔跟蹤等高線離散點,然後光滑加密形成數字等高線數據。第6步:生成正射數字圖像 正射數字圖像:用數字正射投影(數字微分校正)技術將原數字圖像校正為正射圖像。如果將數字等高線與數字正射圖像套合,即產生帶等高線的正射數字...