BSTest

BSTest利用標準的JTAG(又叫邊界掃描Boundary Scan)接口,依據IEEE 1149.1標準,通過控制JTAG晶片的管腳,通過算法對比預設數值與回讀數據,從而發現短路、虛焊等情形。

基本介紹

  • 軟體名稱:BSTest
  • 開發商:哲遠科技
  • 性質:JTAG調試、測試、維修軟體
  • 目的:發現短路、虛焊等情形
定義,原理,特性,手工測試,單個器件,互聯測試,功能,

定義

BSTest,取義Boundary Scan Test,是哲遠科技自主開發的一套JTAG調試、測試、維修軟體。

原理

BSTest利用標準的JTAG(又叫邊界掃描Boundary Scan)接口,依據IEEE 1149.1標準,通過控制JTAG晶片的管腳,通過算法對比預設數值與回讀數據,從而發現短路、虛焊等情形。

特性

在單板的調測過程中,常常需要對單板硬體進行診斷,以判斷是晶片損壞或者是PCB故障或者加工故障(短路、虛焊等)。在現有技術中最常用的通過示波器去觀察被測晶片的管腳狀態。但是,這種方式存在很多缺陷,比如不小心將晶片相連管腳短路損壞晶片,或者晶片管腳很多,很難測量,或者晶片使用BGA等封裝,示波器探頭根本無法放到管腳上。如果不知晶片是損壞還是焊接問題就盲目更換晶片,將帶來很大損失。
目前很多晶片支持IEEE 1149.1 以及相關標準的JTAG 功能。通過JTAG 可以完成對晶片的測試、對PLD的載入或對晶片的調試。但是,目前結合JTAG 進行晶片測試時需要大型ICT設備或者ATE支持,成本很高。
本系統利用單板上的現成JTAG接口,依靠軟體控制JTAG器件來測試,性價比極高。
系統具有手動測試和自動測試功能:手工測試提供查看管腳狀態、控制管腳輸出等功能;自動測試可以進行互聯測試或者單個器件測試,發現並定位多種故障。

手工測試

本系統可以顯示晶片管腳狀態(類似於示波器/邏輯分析儀功能),可以通過控制晶片管腳輸出特定電平或者波形。這樣可以通過分析觀察到的現象發現加工焊接問題(虛 焊、短路/連錫等)或PCB製作等問題,同時也可以作為單板調試的輔助手段。

單個器件

該功能通過讀取測試設定檔案,自動運行,可以發現管腳(不僅僅是被測器件的管腳,包括與被測器件管腳相連的其他器件)連錫、與電源或地短路等情形。

互聯測試

互聯測試在對網表進行分析的基礎上,自動測試相關器件的連線關係,從而發現測試短路(管腳連錫、與電源/地短路)、開路(虛焊、PCB銅箔斷裂)等情形。

功能

可以脫離原廠軟體獨立完成。可以實現一個軟體載入Lattice, Xilinx 等多個廠家的CPLD/FPGA。
支持svf 格式和vme 等格式。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們