高速三維變形測量系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2017年3月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:高速三維變形測量系統
- 產地:中國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2017年3月21日
高速三維變形測量系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2017年3月21日啟用。
高速三維變形測量系統是一種用於材料科學領域的儀器,於2017年3月21日啟用。技術指標解析度:2750x2200pixels;採樣頻率:25--44HZ;應變測量精度:0.005%。1主要功能採用數字相關(DIC)測量方...
高速三維變形和軌跡檢測系統是一種用於材料科學、機械工程領域的特種檢測儀器,於2013年10月1日啟用。技術指標 (1)像元大小:5.5 μm×5.5 μm; (2)應變測量精度:0.02%; (3)應變測量視場面積:10 mm2~5 m2; (4)...
XJTUDIC三維數字散斑動態應變變形測量系統也更名為XTDIC三維全場應變測量系統。原理簡介 採用兩個高速攝像機,實時採集物體各個變形階段的散斑圖像,利用圖像相關算法進行物體表面變形點的立體匹配,並重建出匹配點的三維空間坐標。對位移場數據...
三維高速動態變形和應變測量系統分析系統是一種用於土木建築工程、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2018年2月5日啟用。技術指標 1、全畫幅解析度:1024*1024pixels(方形晶片); 2、採用單一像素尺寸為20*20微米方形CMOS晶片; 3、全...
微尺度高速變形測量;有限元分析驗證;原理 數字圖像相關法(Digital Image Correlation,DIC)是一種非接觸式測量方式,用來測量物體表面應變和變形的方法。dic測量系統通過跟蹤物體表面數字散斑的形變過程,計算散斑域的灰度值的變化,從而獲取...
三維動態變形測量系統是一種用於機械工程領域的科學儀器,於2015年4月7日啟用。技術指標 相機解析度pixel:2352 x 1728,應變測量精度:直到 0.005。主要功能 系統採用非接觸測量方式,適合於各種材料的靜態和動態試驗,可獲得完整的力學...
三維可視化變形監測系統是一種用於交通運輸工程領域的儀器,於2017年07月13日啟用。技術指標 1、可視範圍: 307米為976,000個(點/秒) 2、掃描距離Focuse3D X 330: 0.6米-330米 3、測量速度個(點/秒): 122,000/224,000...
XJTUSD靜態變形測量系統(optical static 3D deformation analysis system),是在工業數字近景三維攝影測量研究基礎上發展的變形測量技術,基於XJTUDP攝影測量系統,採用高解析度單眼數位相機,通過拍攝變形前後物體的多幅圖像,計算出物體關鍵點的...
DIC-3D系統是非接觸式的光學三維應變測量系統,主要運用於分析、計算、儲存應變測量結果。本系統提供的測量結果包括數據、圖表以及雲圖,能夠直觀清晰地反應被測量物體的變形行為,為用戶提供便利。DIC-3D系統利用數字圖像處理基本原理,通過...
三維光學應變測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2019年9月29日啟用。技術指標 應變測量精度:0.005%; 位移測量精度:20+L/25μm(L:mm); 中低速測量系統測量頭解析度:600萬像素(2750 x 2200 pixels); 中低速測量...
結構三維變形場光學測量系統 結構三維變形場光學測量系統是一種用於力學領域的物理性能測試儀器,於2016年10月24日啟用。技術指標 2452*2056*6 @15fps/4GCPU/16G/2T256G/23。主要功能 結構三維變形測量。
最多可支持512個Marker;Marker主動發光,可自動識別,最大發光頻率為4600Hz;系統最大採樣頻率為1500Hz;可同時用作動態和靜態測量。主要功能 風洞試驗中可對橋樑、建築等動態目標進行三維位移測量、變形測量和六個自由度測量。
非接觸三維變形測量系統是一種用於力學領域的分析儀器,於2013年4月28日啟用。技術指標 2個400M解析度高速工業相機,300萬像素Sigma專用鏡頭,補光系統,控制與分析模組,Quad-core Intel PC。主要功能 基於數字圖像相關方法(Digital Image...
這三種方法都不能實現變形量的三維測量,變形的量也不能滿足軟岩或第四紀覆蓋層的變形測量。發明內容 專利目的 《一種地下變形量的三維測量方法及測量系統》的目的在於提供一種地下變形量的三維測量方法及測量系統,能實現變形量的三維測量...
可與各種試驗機配合使用,同步採集試驗機的力、位移、變形等數據。系統也可單獨使用。 實現二維、三維全場應變測量和分析。 強大的處理功能:各種分析功能、各種坐標轉換功能等。 系統在不同時刻圖像中自動分配一一對應的正方形或者矩形的面...
高精度三維表面測量儀系統是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2014年7月8日啟用。技術指標 解析度<0.01MM。主要功能 對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、台階...
XJTUDA動態變形測量分析系統(Dynamic 3D deformation analysis system),採用了立體相機技術、標定、快速分析技術,通過2個高速高解析度數字相機構成的立體相機,實時拍攝物體運動圖像,實時計算物體表面關鍵點的三維坐標,實現高速測量、靜態和...
XTDIC-CONST-HS高速型 XTDIC-MICRO顯微應變測量系統 XTDIC-STROBE三維動態軌跡測量系統 XTDP攝影測量系統 XTDP攝影測量系統是一款用於大型工件及產品、生產設備、試驗設施等對象的空間幾何尺寸測量和靜態變形分析,具有精度高、速度快、超便攜和...
V-STARS(Video-Simultaneous Triangulation and Resection System)系統是美國GSI公司研製的工業數字近景攝影三維坐標測量系統。V-STARS系統概況 美國GSI公司是工業攝影測量技術的領導者,從事攝影測量系統研發超過三十五年的歷史,技術創始人JOHN...
技術指標 精度最高可達 0.1mm RMS,解析度0.01mm。最多可支持512個Marker; Marker最大發光頻率為 4600 Hz;系統最大採樣頻率為1500 Hz。主要功能 用於骨科生物力學研究中關節及脊柱的三維運動測量、靜態變形測量。
非接觸應變測量系統,以數字相關(DIC)測量方式,通過兩個CMOS測量相機測得試樣表面三維全場應變圖,真實應力-應變曲線,系統即可開展高速拉伸條件下的全場和局部應變測試、常溫下動靜態力學測試和疲勞試驗的測量要求,從而為材料或者結構的測試和...