高純鎵化學分析方法痕量元素的測定電感耦合電漿質譜法

高純鎵化學分析方法痕量元素的測定電感耦合電漿質譜法

《高純鎵化學分析方法 痕量元素的測定 電感耦合電漿質譜法(YS/T 474-2005)》於2005年8月第一版、第一次印刷。本標準為首次制定,是在參照國外先進標準的基礎上,結合我國國情,依據技術上先進、經濟上合理的原則制定的,由全國有色金屬標準化技術委員會提出並歸口。並由國家發展和改革委員會於2005年5月發布,並於2005年12月實施。

基本介紹

  • 書名:高純鎵化學分析方法 痕量元素的測定 電感耦合電漿質譜法
  • 作者:國家發展和改革委員會
  • 出版日期:2005年8月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:155066216297
  • 外文名:Determination of Trace Elements in High-Purity Gallium-ICP-MS Analytical Method
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:2頁
  • 開本:16
  • 品牌:北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介,文摘,

內容簡介

《高純鎵化學分析方法 痕量元素的測定 電感耦合電漿質譜法(YS/T 474-2005)》由中國標準出版社出版。

文摘

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