高溫積體電路動態老化系統是一種用於電子與通信技術、產品套用相關工程與技術領域的工藝試驗儀器，於2003年3月18日啟用。
基本介紹
- 中文名：高溫積體電路動態老化系統
- 產地：中國
- 學科領域：電子與通信技術、產品套用相關工程與技術
- 啟用日期：2003年3月18日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 半導體積體電路工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
系統烘箱部分：溫度：室溫～150℃，過沖≤3℃，升溫時間≤40min，溫度偏差≤±2℃，溫度均勻度≤4℃雙重超溫保護裝置：系統電源與信號部分：整機一共20台25V/40A高可靠開關電源，32個老化工位，可進行32種器件老化，設備每個工位可以提供64路數位訊號，4路模擬信號，並且一個老化工位可以回檢64路回檢信號；一級電源技術指標：輸出電壓範圍：0～25V，輸出電流範圍：0～40A，紋波RMS：≤100mV，過壓保護範圍：5～25V，恆流保護範圍：1～40A；二級電源指標：VCC,VMUX，VCLK,VEE輸出電壓1V～18V，電流10A（MAX），紋波≤10mV，程控解析度100mV。
主要功能
對VLSI,LSI,MSI,SSI數字/模擬積體電路進行高溫動態老化試驗和監測。
