高溫老化測試系統

高溫老化測試系統是一種用於材料科學領域的工藝試驗儀器，於2016年02月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫老化測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年02月22日
• 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 半導體積體電路工藝實驗設備

技術指標

Total-32 Slots 256 I/O。

主要功能

積體電路晶片老化測試。