DSPFPGA積體電路高溫動態老化試驗系統

DSPFPGA積體電路高溫動態老化試驗系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的電子測量儀器，於2012年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：DSPFPGA積體電路高溫動態老化試驗系統
• 產地：中國
• 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術
• 啟用日期：2012年1月1日
• 所屬類別：電子測量儀器 > 通用電子測量儀器 > 示波器

技術指標

電壓範圍：-15V~+15V；電流範圍：0~60.0A。

主要功能

電子元器件篩選。