積體電路老化測試系統是一種用於電子與通信技術領域的工藝試驗儀器，於2008年06月25日啟用。
基本介紹
- 中文名：積體電路老化測試系統
- 產地：中國台灣
- 學科領域：電子與通信技術
- 啟用日期：2008年06月25日
- 所屬類別：工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 半導體積體電路工藝實驗設備
技術指標,主要功能,
技術指標
Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36 ; Number of Zone: 6 zones;Pattern Vector Depth: 128K;Pattern Channels:96 channels;Clock Rate:5MHz,50ns resolution;Waveform Format:RZ,NRZ,RO,SBC；Driver Capacity:I Sink 200mA,l Sour。
主要功能
用來做耐溫老化試驗的。在耐溫老化試驗中，首先要根據老化測試系統機台內部的接口，另外設計製作老化測試板，將要測試的積體電路晶片插在老化測試板上，再將老化測試板插入老化測試系統內部的接口中，老化測試系統內部接口可提供電壓和信號，通過老化測試板供給晶片，同時讓老化測試系統升溫，讓晶片在高溫狀態下工作。在一定的工作時間結束後取出積體電路晶片，再通過其他測試設備判斷晶片是否損壞，從而判斷積體電路晶片的壽命。
